共用設備検索
共用設備検索結果
- 設備ID
- HK-302
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-6500F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:1kV~30kV
分析機能:EDS, EBSD
- 設備ID
- HK-303
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8530F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:1~30kV
分析機能:WDS
- 設備ID
- HK-304
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JIB-4600F/HKD
- 仕様・特徴
- 加速電圧:1~30kV
分析機能:EDS、EBSD、3D観察
像分解能:5nm(30kV)
- 設備ID
- HK-404
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- Regulus8230
- 仕様・特徴
- 加速電圧:0.5~30kV
分析機能:EDS
STEM機能
試料サイズ:6インチまで
遠隔画面共有
- 設備ID
- HK-625
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-6700FT
- 仕様・特徴
- 加速電圧:5-30kV
EDS機能
試料サイズ:小片~25mm角
- 設備ID
- CT-009
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- MultiMode 8J
- 仕様・特徴
- ・大気中、液中イメージングが可能
・ナノ機械特性(弾性率、吸着力)、ナノ電気特性(表面電位、導電性)の測定が可能
- 設備ID
- CT-010
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- TM4000Plus
- 仕様・特徴
- ・加速電圧:5、10、15 kV
・倍率:10~100,000倍
・装備オプション:EDS、UVD、カメラナビゲーションシステム
- 設備ID
- CT-011
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-7800F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧:0.01~30 kV
・倍率: 25~1,000,000倍
・装備オプション:EDS、STEM、BED、USD、低真空システム
- 設備ID
- BA-006
- 設置機関
- 筑波大学
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker (Bruker)
- 型番
- Dimension Icon
- 仕様・特徴
- 形状測定モード:
タッピングモード, コンタクトモード
物性測定モード:
電気・磁気特性(EFM/SSRM/KPFM/MFM他)
機械特性(粘弾性/水平力)
試料サイズ:直径 <Φ150mm, 厚さ <10mm
最大スキャン範囲:XY 90μmx90μm, Z 10μm
Z方向ノイズ:0.03nm RMS
測定環境:大気中, 液中(要相談)
- 設備ID
- BA-008
- 設置機関
- 筑波大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- SU-8020
- 仕様・特徴
- 二次電子分解能;1.0nm(加速電圧15kV,WD=4mm) 1.3nm(照射電圧1kV,WD=1.5mm)
照射電圧;0.1~30kV
低倍率モード;20~2,000倍(写真倍率)
高倍率モード;100~800,000倍(写真倍率)
SE/BSE信号可変方式
"走査型顕微鏡"で検索した結果 114件
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