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"走査型X線顕微鏡"で検索した結果 2件
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走査型透過X線顕微鏡 (Scanning Transmission X-ray microscopy apparatus)
- 設備ID
- AE-009
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- カスタム (Home-made)
- 型番
- なし
- 仕様・特徴
- N, OのK吸収端, および遷移金属L2,3吸収端、希土類M4,5吸収端など、400~1900eVに吸収端のある元素の実空間2次元マッピングが可能で、場所ごとの吸収スペクトルを得ることができる。
・空間分解能：~50 nm
・試料温度：室温のみ
・検出方法：透過法のみ
高分解能３次元X線顕微鏡 (３D X-ray Microscope)
- 設備ID
- SH-012
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- ツァイス (Zeiss)
- 型番
- Xradia 620 Versa
- 仕様・特徴
- 空間分解能500 nm 最小ボクセルサイズ40 nm
X線出力最大25 W（加速電圧30-160 kV)
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