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共用設備検索結果
"走査型プローブ顕微鏡"で検索した結果 26件
- 26件中 21～30件
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- 設備ID
- OS-125
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 株式会社日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science Corporation)
- 型番
- AFM5000/AFM5300E
- 仕様・特徴
- 【特徴】
AFM,c-AFM,STM,DFM,MFM,KFM,PRM,電流マッピング,SNDMなどが測定可能な走査型プローブ顕微鏡です。
温度制御、調湿制御機構を備えており、真空下での測定も可能です。
500ｍTの磁場が試料水平方向に印加可能です。
【仕様】
試料サイズ：15mmφ
温度制御：-120～300℃
調湿制御：30～70％
真空中測定：10E-4Paまで可能
磁場印加：試料水平方向に500ｍT
- 設備ID
- RO-533
- 設置機関
- 広島大学
- 設備画像
- メーカー名
- セイコーインスツルメンツ (Seiko Instruments Inc.)
- 型番
- SPI3800
- 仕様・特徴
- 分解能：z:0.01nm, Ｘ、Ｙ：0.1nm,
視野：最小5nm角、最大 20μm角、
- 設備ID
- NM-651
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![走査型プローブ顕微鏡 [L-trace]](data/facility_item/1687417014_11.jpg)
- メーカー名
- 株式会社日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science Corporation)
- 型番
- L-trace
- 仕様・特徴
- ・測定モード：コンタクトAFM、タッピングAFM、摩擦力顕微鏡
・走査範囲：水平100 x 100 um
・最大試料サイズ： 6インチφ
・付加機能：I-V測定及びマッピング
- 設備ID
- NM-652
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![走査型プローブ顕微鏡 [Nanoscope5]](data/facility_item/1687417053_11.jpg)
- メーカー名
- ブルカージャパン株式会社 (Bruker Japan K.K.)
- 型番
- Nanoscope5
- 仕様・特徴
- ・測定モード： Contact AFM , Tapping AFM , MFM, Liquid-phase AFM
・走査範囲：17μ または 1.3μ
- 設備ID
- NR-706
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- NanoWizard ULTRA Speed 2
- 仕様・特徴
- ・測定環境：大気中、液中
・最大撮影速度：10 frames/sec
・最大走査範囲：水平300μm×垂直300μm
・動作モード：コンタクトモード、ピークフォースタッピング（QIモード）、ACモード、フォースカーブマッピングモード
・温度制御範囲：室温～+300℃（高温加熱ステージ利用時）、-30～120℃（加熱冷却モジュール利用時）
- 設備ID
- UT-861
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- L-traceⅡ
- 仕様・特徴
- □主な特長
・Z直進エラーの低減化
・S/N比向上と光ノイズ低減
・熱源抑制効果による低ドリフト化
□主な仕様
・分解能 面内0.5nm 垂直0.05nm
・試料サイズ 直径150mm厚さ12mmまで
・スキャン最大エリア90μmX90μm
□主な用途
・ 微細加工形状の評価
・ 薄膜の表面形状（粗さ）観察
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