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走査型電子顕微鏡(81)
走査型プローブ顕微鏡(26)
走査型X線顕微鏡(2)
その他(3)
測長SEM (CD-SEM)
設備ID
TU-317
設置機関
東北大学
設備画像
メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
CS4800
仕様・特徴
6、8インチは自動搬送、4インチ以下は手動搬送
計測再現性:1nm(3σ)
"走査型電子顕微鏡"で検索した結果 81件
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