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電界放出形透過型電子顕微鏡 (Field emission transmission electron microscope)
- 設備ID
- MS-203
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 電子銃 フィールドエミッション
加速電圧 200kV
分解能 0.23nm（粒子像）、0.1nm（格子像）
倍率 X2,000 ～ X1,500,000
試料 3mmφ以内
3MV超高圧電子顕微鏡 (3MV Ultra-High Voltage Electron Microscope)
- 設備ID
- OS-001
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- （株）日立製作所 (Hitachi, Ltd.)
- 型番
- H-3000
- 仕様・特徴
- 加速電圧3MV
1MV物質・生命科学超高圧電子顕微鏡 (1MV Materials- and Bio-Science UHVEM)
- 設備ID
- OS-002
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子（株） (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-1000EES
- 仕様・特徴
- 加速電圧1MV、TEM、STEM、EELS、試料冷却機能
200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡 (200kV atomic-resolution analytical TEM/STEM)
- 設備ID
- OS-003
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子（株） (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧200kV、HRTEM、収差補正STEM
EDS、EELS分析機能
300kVクライオ電子顕微鏡 (300kV Cryo-EM)
- 設備ID
- OS-004
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Titan Krios
- 仕様・特徴
- 加速電圧300kV、試料冷却機能
電界放出型200kV高分解能電子顕微鏡 (200kV high-resolution FEG-TEM)
- 設備ID
- OS-008
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HF-2000
- 仕様・特徴
- 加速電圧200kV、HRTEM
200kV回折コントラスト電子顕微鏡 (200kV diffraction-contrast TEM)
- 設備ID
- OS-009
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- H-800
- 仕様・特徴
- 加速電圧200kV、回折コントラスト実験
200kV透過電子顕微鏡 (200kV Transmission Electron Microscope (TEM))
- 設備ID
- NR-203
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2200FS
- 仕様・特徴
- ・加速電圧： 200kV
・倍率： 1,200～600,000倍（分解能：0.31nm）
・オプション：
動画観察システム
走査透過電子顕微鏡（STEM） (Scannning Transmission Electron Microscope (STEM))
- 設備ID
- NR-204
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2700
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 200 kV、120 kV、80 kV
・球面収差補正装置搭載
・分解能: 136 pm
・EDX検出器搭載