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時間分解収差補正光電子顕微鏡システム (Time-resolved photoelectron emission microscope)
- 設備ID
- HK-405
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- エルミテック (Elmitec)
- 型番
- AC-PEEMIII
- 仕様・特徴
- 空間分解能：4nm以下
時間分解能：10fs以下
LEEM機能
透過型電子顕微鏡（TEM） (Transmission electron microscope (TEM))
- 設備ID
- CT-012
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- H-7600
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：120 kV
・冷却フォルダー（-120 ℃）
透過型電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
- 設備ID
- UE-017
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 加速電圧: 200kV, 格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm
原子分解能走査透過型電子顕微鏡 (STEM)
- 設備ID
- JI-008
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200 kV
電子銃 ショットキー型電界放出銃
分解能：
0.08 nm（走査透過像）
0.19 nm（透過顕微鏡 粒子像）
0.10 nm（透過顕微鏡 格子像）
EDS、EELSによる組成分析機能付
照射系収差補正装置：組み込み
UHR仕様
透過電子顕微鏡 (TEM)
- 設備ID
- JI-009
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100Plus
- 仕様・特徴
- 【半遠隔利用可】
加速電圧：60, 100, 120, 200kV
EDSによる組成分析機能付
UHR仕様
低加速走査電子顕微鏡 (FE-SEM)
- 設備ID
- JI-010
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- Regulus8230
- 仕様・特徴
- 【遠隔利用可】
加速電圧：0.5-30kV（照射電圧0.01-20kV）
分解能：0.6nm at 15kV
EDX、EBSD、PD-BSE、EBIC
ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡 (Double spherical aberration corrected transmission electron microscope (Cs-corrected TEM))
- 設備ID
- SH-001
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- ＪＥＭ-2100Ｆ
- 仕様・特徴
- 球面収差補正装置： EM-Z07167T 2段つき
加速電圧：80kV(カーボンに特化した低加速電圧で運転中)
分析機能：EELS、EDS
走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- SH-002
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2300A
- 仕様・特徴
- 分解能0.204nm
加速電圧200kV
原子分解能分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope )
- 設備ID
- SH-003
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F NEOARM
- 仕様・特徴
- 分解能STEM-HAADF 0.078nm（200kV）
加速電圧 30、80、200kV
自動収差補正システム
原子分解能分析電子顕微鏡群 (Atomic-Resolution Analytical Electron Microscope)
- 設備ID
- NI-001
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子/ガタン (JEOL/Gatan, Inc./Gatan, Inc.)
- 型番
- JEM-ARM200F/PIPS II/Model 656
- 仕様・特徴
- ●走査透過電子顕微鏡（JEM-ARM200F）
加速電圧：80kV・200kV，電子銃：冷陰極電界放出型
EDS、EELS、デジタルCCDカメラシステム付設
●イオンミリング装置（PIPS II）
高精度で無機化合物、金属、複合材料などをAr+イオンにより研磨できる。イオン銃加速電圧：0.1～7kV 冷却ステージあり
●ディンプルグラインダー（Model 656）
イオンミリングの前処理として固体板状試料に3mmΦ以下のくぼみをつけることができる。