共用設備検索
共用設備検索結果
"透過電子顕微鏡"で検索した結果 69件
- 69件中 31～40件
- ＜
- 1
- 2
- 3
- 4
- 5
- 6
- 7
- ＞
- 設備ID
- NU-102
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F Cold
- 仕様・特徴
- 加速電圧：80, 200kV
TEM, STEM, EELS, EDS
TEM点分解能：110pm
STEM－HAADF分解能：78pm
- 設備ID
- NU-103
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F/HK
- 仕様・特徴
- 加速電圧：80, 200kV
TEM, STEM, EDS
TEM点分解能：0.14nm
STEM－HAADF分解能：1nm
- 設備ID
- KT-401
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F(G5)
- 仕様・特徴
- 液体ヘリウム冷却ステージを内蔵したクライオ電顕。溶液内のナノ集合体や有機材料の照射損傷を低減した観察が可能。クライオトランスファー機構装備。
・加速電圧：200kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.2nm
・冷却温度：4.2K
- 設備ID
- KT-402
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2200FS
- 仕様・特徴
- 結像系の球面収差補正装置とインカラム型オメガフィルターを搭載した高分解能分析電子顕微鏡。
・加速電圧：200kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.2nm
・エネルギー分解能：0.8eV
・分析機能：EELS
- 設備ID
- KT-403
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系と結像系に球面収差補正装置を搭載し、電子銃にはモノクロメータが組み込まれた高エネルギー分解能原子直視型分析電子顕微鏡。分析機能はEELSとEDSを装備。
・加速電圧：200kV、60kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.1nm
・STEM分解能：0.08nm
・エネルギー分解能：0.03eV
・分析機能：EELS、EDS
- 設備ID
- KU-001
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-1300NEF
- 仕様・特徴
- オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV、電子線トモグラフィ、レーザーパルス光照射、その場観察、冷却・加熱引張試験
- 設備ID
- KU-002
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析
- 設備ID
- KU-004
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200CF
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS（100mm2 SDD２機搭載 立体角1.7sr)/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧：30, 60, 80, 120, 200ｋV、その場観察、 加熱・冷却・電圧印加・ガス雰囲気
- 設備ID
- KU-007
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析
- 設備ID
- KU-009
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100HCKM
- 仕様・特徴
- 組織観察/電子解析図形収集の汎用機、加速電圧：100,120,200ｋV、CMOSカメラ(4K)
"透過電子顕微鏡"で検索した結果 69件
- 69件中 31～40件
- ＜
- 1
- 2
- 3
- 4
- 5
- 6
- 7
- ＞