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2軸傾斜液体窒素冷却TEM試料ホルダー (Double-tilt LN2 cryo TEM holder)
- 設備ID
- NM-507
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- Gatan (Gatan)
- 型番
- Gatan 636
- 仕様・特徴
- ・-160℃まで
電子線トモグラフィー解析システム (Electron tomography analysis system)
- 設備ID
- NM-515
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- ()
- 型番
- 仕様・特徴
- ・3D再構築、ビジュアライゼーション
高分解能透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-501
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Titan 80-300
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 300 kV/80 kV
・球面収差補正装置（結像系）
・EDS分析（検出器＝30 mm2）
・高傾斜一軸ホルダー
超高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-502
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Titan3 60-300 (double)
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 300 kV/60 kV
・球面収差補正装置（照射系、結像系）
・EDS分析（30 mm2 検出器 ×4=120 mm2)
・エネルギー分解能 0.30 eV/0.85 eV (mono on/off)
超高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-503
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Titan3 60-300 (probe)
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 300 kV/60 kV
・球面収差補正装置（照射系）
・EDS分析（30 mm2 検出器 ×4=120 mm2)
超高分解能透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-504
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV/80 kV
・球面収差補正装置（照射系、結像系）
・EDS分析（検出器＝100 mm2)
・EELS分光器 エネルギー分解能 0.35 eV
・高傾斜一軸ホルダー
分析電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-516
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- トプコン株式会社 (Topcon)
- 型番
- EM-002B
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・EDS点分析・マッピング
・プリセッション回折
透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-517
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2000EXⅡ
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・試料加熱ホルダー（最高温度 約800 ℃）
・試料冷却ホルダー（最低温度 約-170 ℃）
低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (Low-voltage atomic-resolution Scanning Transmision Electron Microscopy)
- 設備ID
- UT-001
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200CF
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・冷陰極電界放出電子銃
・加速電圧: 30 - 200 kV
・分解能: 0.071 nm (200 kV), 0.11 nm (60 kV)
・分析機能: EDS, EELS
・収差補正装置（プローブ補正）
・遠隔操作利用可
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡（Cs-STEM） (Light elements visible ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- UT-002
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM200F Cold FE
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能 0.08nmを実現
□ 主な仕様
・ 加速電圧:200kV、120kV
・ 分解能：走査透過像※ 0.08nm (加速電圧200kV)※環状型暗視野検出器を使用
・ 倍率：走査透過像 200～150,000,000倍
・ 透過顕微鏡像 50～2,000,000倍
・ 収差補正装置：照射系球面収差補正装置 組み込み
・ 検出器：エネルギー分散形X線分析装置 (EDS)、電子線エネルギー損失分光器（EELS）、軽元素対応像検出器、CCD検出器（2k×2k）