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クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 (Cryo-TEM/STEM)

設備ID
UT-010
設置機関
東京大学
設備画像
クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡
メーカー名
日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番
JEM-2100F
仕様・特徴
□ 主な仕様
・ ショットキー型FE電子銃装備
・ 分解能<0.31nm
・ EDS、EELS検出器装備
・ TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備
・ 極低温観察用クライオトランスファホルダ装備
・ CCD検出器(4k×4k,1k×1k)
・加速電圧:200kV、120kV

300kVクライオ電子顕微鏡 (300kV Cryo-EM)

設備ID
OS-004
設置機関
大阪大学
設備画像
300kVクライオ電子顕微鏡
メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック (Thermo Fisher Scientific)
型番
Titan Krios
仕様・特徴
加速電圧300kV、試料冷却機能
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