共用設備検索結果
"超高圧電子顕微鏡"で検索した結果 6件
フリーワード検索
中分類から探す
原子直視型超高圧電子顕微鏡 (Ultra-high voltage electron microscope)
- 設備ID
- UT-401
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM1250
- 仕様・特徴
- □主な仕様
（１）本体
加速電圧 ： 400、600、800、1,000、1,250kV
電子線源 ： 単結晶LaB6
焦点距離 ： 8.2mm
球面収差係数 ： 1.4mm
色収差係数 ： 2.5mm
分解能 ： 0.1nm（粒子像）
試料最大傾斜角 ： ±35°
真空度 ： 7×10-6Pa以下（試料室）
排気方式 ： ターボ分子、イオン、クライオポンプ併 用（完全ドライ方式）
（２）電子線損傷低減装置（MDS） 組込
（３）画像記録 シートフィルムおよびイメージングプレート（25μm／ピクセル）
（４）収束電子線回折装置 組込
収束角（2α）／最小スポット径 ：
4.0mrad.／15nm～2.0mrad.／30nm
最大加速電圧 ： 1,250kV
最大試料傾斜角 ： ±25°
反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡システム (Reaction science high-voltage scanning transmission electron microscope (RS-HVSTEM))
- 設備ID
- NU-101
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-1000K RS
- 仕様・特徴
- 加速電圧：1000kV
ガス環境実験:最大ガス圧10,000Pa
HVEM-STEM機能
TEM分解能：0.14nm
STEM分解能：1nm
電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 (1300 kVHigh Voltage Electron Microscope )
- 設備ID
- KU-001
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-1300NEF
- 仕様・特徴
- オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV、電子線トモグラフィ、レーザーパルス光照射、その場観察、冷却・加熱引張試験
マルチビーム超高圧電子顕微鏡 (Multi-Beam HVEM)
- 設備ID
- HK-103
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- ARM-1300
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：1250kV
・TEM分解能：0.12nmn
・LaB6熱電子銃
・300K、400Kイオン加速器
・ナノ秒パルスレーザー
・He-Cd CWレーザー
・フェムト秒レーザー
・CCD分光器
・遠隔観察
3MV超高圧電子顕微鏡 (3MV Ultra-High Voltage Electron Microscope)
- 設備ID
- OS-001
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- （株）日立製作所 (Hitachi, Ltd.)
- 型番
- H-3000
- 仕様・特徴
- 加速電圧3MV
1MV物質・生命科学超高圧電子顕微鏡 (1MV Materials- and Bio-Science UHVEM)
- 設備ID
- OS-002
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子（株） (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-1000EES
- 仕様・特徴
- 加速電圧1MV、TEM、STEM、EELS、試料冷却機能
"超高圧電子顕微鏡"で検索した結果 6件