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走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- HK-402
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2000
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200kV
冷陰極電界放出電子銃
分析機能：EDS、EELS
原子分解能走査透過型電子顕微鏡 (STEM)
- 設備ID
- JI-008
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200 kV
電子銃 ショットキー型電界放出銃
分解能：
0.08 nm（走査透過像）
0.19 nm（透過顕微鏡 粒子像）
0.10 nm（透過顕微鏡 格子像）
EDS、EELSによる組成分析機能付
照射系収差補正装置：組み込み
UHR仕様
走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- SH-002
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2300A
- 仕様・特徴
- 分解能0.204nm
加速電圧200kV
原子分解能分析電子顕微鏡群 (Atomic-Resolution Analytical Electron Microscope)
- 設備ID
- NI-001
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子/ガタン (JEOL/Gatan, Inc./Gatan, Inc.)
- 型番
- JEM-ARM200F/PIPS II/Model 656
- 仕様・特徴
- ●走査透過電子顕微鏡（JEM-ARM200F）
加速電圧：80kV・200kV，電子銃：冷陰極電界放出型
EDS、EELS、デジタルCCDカメラシステム付設
●イオンミリング装置（PIPS II）
高精度で無機化合物、金属、複合材料などをAr+イオンにより研磨できる。イオン銃加速電圧：0.1～7kV 冷却ステージあり
●ディンプルグラインダー（Model 656）
イオンミリングの前処理として固体板状試料に3mmΦ以下のくぼみをつけることができる。
走査透過電子顕微鏡（STEM） (Scannning Transmission Electron Microscope (STEM))
- 設備ID
- NR-204
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2700
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 200 kV、120 kV、80 kV
・球面収差補正装置搭載
・分解能: 136 pm
・EDX検出器搭載