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電界放射型分析電子顕微鏡 (Analytical FEG-TEM)
- 設備ID
- HK-102
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2010F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：200kV
・TEM分解能：0.23nmn
・熱電界放出電子銃
・分析機能：EDS、EELS
・遠隔観察
環境セル対応透過電子顕微鏡 (Transmission electron microscope for Environmental cell (E-TEM))
- 設備ID
- HK-301
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2010
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200kV
分析機能：EDS
環境セル加熱ホルダー装備
透過型電子顕微鏡（TEM） (Transmission electron microscope (TEM))
- 設備ID
- CT-012
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- H-7600
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：120 kV
・冷却フォルダー（-120 ℃）
透過型電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
- 設備ID
- UE-017
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 加速電圧: 200kV, 格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm
透過電子顕微鏡 (TEM)
- 設備ID
- JI-009
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100Plus
- 仕様・特徴
- 【半遠隔利用可】
加速電圧：60, 100, 120, 200kV
EDSによる組成分析機能付
UHR仕様
ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡 (Double spherical aberration corrected transmission electron microscope (Cs-corrected TEM))
- 設備ID
- SH-001
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- ＪＥＭ-2100Ｆ
- 仕様・特徴
- 球面収差補正装置： EM-Z07167T 2段つき
加速電圧：80kV(カーボンに特化した低加速電圧で運転中)
分析機能：EELS、EDS
原子分解能分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope )
- 設備ID
- SH-003
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F NEOARM
- 仕様・特徴
- 分解能STEM-HAADF 0.078nm（200kV）
加速電圧 30、80、200kV
自動収差補正システム
電界放出形透過型電子顕微鏡 (Field emission transmission electron microscope)
- 設備ID
- MS-203
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 電子銃 フィールドエミッション
加速電圧 200kV
分解能 0.23nm（粒子像）、0.1nm（格子像）
倍率 X2,000 ～ X1,500,000
試料 3mmφ以内
電界放出型200kV高分解能電子顕微鏡 (200kV high-resolution FEG-TEM)
- 設備ID
- OS-008
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HF-2000
- 仕様・特徴
- 加速電圧200kV、HRTEM
200kV回折コントラスト電子顕微鏡 (200kV diffraction-contrast TEM)
- 設備ID
- OS-009
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- H-800
- 仕様・特徴
- 加速電圧200kV、回折コントラスト実験