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超高分解能透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-504
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV/80 kV
・球面収差補正装置（照射系、結像系）
・EDS分析（検出器＝100 mm2)
・EELS分光器 エネルギー分解能 0.35 eV
・高傾斜一軸ホルダー
分析電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-516
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- トプコン株式会社 (Topcon)
- 型番
- EM-002B
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・EDS点分析・マッピング
・プリセッション回折
透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-517
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2000EXⅡ
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・試料加熱ホルダー（最高温度 約800 ℃）
・試料冷却ホルダー（最低温度 約-170 ℃）
超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM) (Ultra-high-resolution transmission electron microscope)
- 設備ID
- UT-003
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM200F Cold FE
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
・ 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像(TEM)の分解
能が0.11nmまで向上
・ 高圧、対物電流の変動を従来機の50%に抑制し、電気的安定度を大幅に向上
・ 鏡筒径を大きくし剛性を高めるとともに、架台の構造を最適化し、装置全体の機械的強度を従来機の約2倍に強化し、機械的安定度を向上
・ 熱および磁気シールドを標準装備。また、装置周囲の対流の変化による鏡筒表面の温度変化を防ぐために、鏡筒全体をカバーで被覆
□ 主な仕様
・ 加速電圧:200kV、120kV、100kV、80kV、60kV
・ 分解能：粒子像透過顕微鏡分解能 0.10nm(加速電圧200kV)
・ 倍率：走査透過像 200～150,000,000倍
・ 透過顕微鏡像 50～2,000,000倍
・ 収差補正装置：結像系球面収差補正装置
・ 検出器：CCDカメラ、CMOSカメラ×2
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- UT-009
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-2010HC
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（１）本体
加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV
電子線源 ： 単結晶LaB6
試料最大傾斜角 ： ±30°
試料移動 ： モーター駆動(X、Y、Z)
排気方式 ： ターボ分子ポンプ(TMP)
（２）画像記録 シートフィルムおよびデジタル画像
（３）分析機能：EDS
有機材料ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (Bio-TEM)
- 設備ID
- UT-011
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-1400
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・ 分解能＜0.38nm
・ オートフォーカス及び自動モンタージュ機能（自動つなぎ合わせ及び自動コントラスト補正）
・ 自動モンタージュは縦5枚×横5枚（合計2500万画素）が可能で、分解能を維持したままの大面積観察・超高速スクリーニングに対応可能。
・加速電圧：120kV
極低温透過電子顕微鏡 (Ultralow-temperature high-resolution transmission electron microscope)
- 設備ID
- KT-401
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F(G5)
- 仕様・特徴
- 液体ヘリウム冷却ステージを内蔵したクライオ電顕。溶液内のナノ集合体や有機材料の照射損傷を低減した観察が可能。クライオトランスファー機構装備。
・加速電圧：200kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.2nm
・冷却温度：4.2K
球面収差補正透過電子顕微鏡 (Spherical-aberration-corected transmission electron microscope)
- 設備ID
- KT-402
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2200FS
- 仕様・特徴
- 結像系の球面収差補正装置とインカラム型オメガフィルターを搭載した高分解能分析電子顕微鏡。
・加速電圧：200kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.2nm
・エネルギー分解能：0.8eV
・分析機能：EELS
モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡 (Monochromated atomic resolution analytical electron microscope)
- 設備ID
- KT-403
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系と結像系に球面収差補正装置を搭載し、電子銃にはモノクロメータが組み込まれた高エネルギー分解能原子直視型分析電子顕微鏡。分析機能はEELSとEDSを装備。
・加速電圧：200kV、60kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.1nm
・STEM分解能：0.08nm
・エネルギー分解能：0.03eV
・分析機能：EELS、EDS
透過型電子顕微鏡装置群 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- KU-512
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2010、JASM-6200
- 仕様・特徴
- 【JEM-2010】
・最高加速電圧：200kV、点分解能：0.23nm
・加速電圧：120, 200kV
【付帯設備：ウルトラミクロトームEM UC7 Leica社製】
・薄片試料の作成に最適
・実体顕微鏡
・室温のみ対応
【JASM-6200】
・液中観察(大気圧下観察)
・×10～100,000倍観察
・明視野、蛍光観察 (光学顕微鏡)
・電磁２段ズームコンデンサレンズ