共用設備検索
共用設備検索結果
"透過型電子顕微鏡"で検索した結果 31件
- 31件中 1~10件
- 1
- 2
- 3
- 4
- >
- 設備ID
- OS-011
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子(株) (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-1400Flash
- 仕様・特徴
- 加速電圧 120kV、モンタージュ撮影、ミニマムドーズシステム(MDS)
- 設備ID
- TU-520
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100Plus
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・EDSマッピング
- 設備ID
- NM-501
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F-G
- 仕様・特徴
- ・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・ショットキーFEG
・加速電圧: 80, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー
- 設備ID
- NM-502
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F-B
- 仕様・特徴
- ・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・Cold FEG
・加速電圧: 60, 80, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー
- 設備ID
- NM-503
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F1
- 仕様・特徴
- ・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備ID
- NM-504
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F2
- 仕様・特徴
- ・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備ID
- NM-505
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100
- 仕様・特徴
- ・熱電子銃
・加速電圧: 80, 100, 120, 160, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備ID
- TU-501
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Titan 80-300
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 300 kV/80 kV
・球面収差補正装置(結像系)
・EDS分析(検出器=30 mm2)
・高傾斜一軸ホルダー
- 設備ID
- TU-502
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Titan3 60-300 (double)
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 300 kV/60 kV
・球面収差補正装置(照射系、結像系)
・EDS分析(30 mm2 検出器 ×4=120 mm2)
・エネルギー分解能 0.30 eV/0.85 eV (mono on/off)
- 設備ID
- TU-503
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Titan3 60-300 (probe)
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 300 kV/60 kV
・球面収差補正装置(照射系)
・EDS分析(30 mm2 検出器 ×4=120 mm2)
"透過型電子顕微鏡"で検索した結果 31件
- 31件中 1~10件
- 1
- 2
- 3
- 4
- >