共用設備検索
共用設備検索結果
"回折・散乱"で検索した結果 73件
- 73件中 71～80件
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- 設備ID
- RO-526
- 設置機関
- 広島大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク ()
- 型番
- ATX-E
- 仕様・特徴
- 角度分解能 0.0002度(2θ)
- 設備ID
- UT-204
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ㈱リガク (Rigaku Co.)
- 型番
- SmartLab (Kα1)
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系による高強度、高角度分解能測定が可能。粉末Ｘ線回折等に威力を発揮。
□ 主な仕様
・ X線源：3 kW封入型Ｘ線管/Cuターゲット
・ 光学系：集中法・集光法
・ 検出器：シンチレーション検出器：1次元半導体検出器
・対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系が可能
・キャピラリー回転測定可能
- 設備ID
- YG-011
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 エビデント ライカ (Otsuka Electronics Evident Leica)
- 型番
- PP-1000 BX53LED-33P-OC-D Multicut R
- 仕様・特徴
- 1. 小角散乱装置
小角光散乱により短時間でサブミクロン～数百ミクロンの高分子やフィルムの構造を評価できる。加熱冷却ステージ付で温度による構造変化をリアルタイム測定可能。
システムで総合的に評価。
・ポリマーブレンドの相分離過程
・ポリマーの結晶化過程
2.偏光観察用システム顕微鏡
無限遠補正UIS2光学系と偏光特性を考慮した光学系により偏光観察、レタデーション測定が可能。高解像度、高コントラストの画像提供
3. ミクロトーム
2段階のトリミング機能(50、10ミクロン)による素早い面出しと正確な試料送り機構による、正確な厚みの切片を作成可能。タングステンブレード、ダイヤモンドナイフを用いる。
"回折・散乱"で検索した結果 73件
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