共用設備検索結果
薄膜X線回折装置 (X-Ray Diffraction System)
- 設備ID
- OS-120
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 株式会社リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- Ultima IV
- 仕様・特徴
- 【特徴】
粉末試料、薄膜試料が測定可能な水平試料型X線回折装置です。
薄膜インプレーンスキャンによる面内構造解析が可能です。
試料交換、スリット等の交換も容易にできます。
【仕様】
定格出力：1.6kW(40kV,40mA)
試料ステージサイズ：10cmφ 2θ/θ、インプレーン測定が可能
応力・イメージング測定装置 (The apparatus for imaging and measuring material stress)
- 設備ID
- AE-004
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- 浜松ホトニクス 米倉製作所 DEBEN (Hamamatsu Photonics K.K. YONEKURA MFG. Co., Ltd. DEBEN)
- 型番
- M11427-43 CT5000
- 仕様・特徴
- 金属材料などの変形中の応力評価やイメージングが可能
【応力・ひずみ】
・時間分解能：最大100Hz
・ひずみ精度：0.01%（応力精度：30MPa＠鉄鋼材料）
・空間分解能：最小5μm
・侵入深さ：10mm＠鉄鋼材料、50mm＠アルミニウム合金
・負荷中、高温中での計測が可能
【イメージング】
・時間分解能：最大1000Hz
・空間分解能：最小3μm
・試料サイズ：φ4mm
・CT計測が可能（最小時間約5分）
・負荷中での計測が可能
〇上述2つの測定を併用することが可能
〇レーザー等の持ち込み装置を利用したその場時分割計測が可能
カッパ型多軸回折計 (κ-type X-ray diffractometer)
- 設備ID
- AE-005
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- ニューポート (Newport)
- 型番
- 特注
- 仕様・特徴
- 通常の回折計のような6軸に加え回転軸を持ち表面の構造解析も可能
・長い2thetaアーム(による高分解能性
・堅牢な回折計
・広いオープンスペースによる試料選択の柔軟性
・試料温度：10-1000K
・試料：固体（誘電体、非晶質）や薄膜
・電気化学同時測定
共鳴非弾性X線散乱装置 (Resonant inelastic X-ray scattering spectrometer)
- 設備ID
- QS-112
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 神津精機（株）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・入射Ｘ線、散乱（発光）Ｘ線の双方のエネルギーを0.1 eV程度のエネルギー分解能でＸ線分光実験が可能な装置。
・通常のXAFSよりも高エネルギー分解能のXAFS（HERFD-XAFS）やＸ線発光分光（XES）により触媒等の詳細な電子状態のその場観察実験が可能。
・ガス雰囲気や電位をかけた状態などでのオペランド計測も実施。
・４軸回折計配置で共鳴非弾性Ｘ線散乱（RIXS）により強相関電子系物質等の電子励起の運動量依存性が測定できる。
・試料温度は10 Kから800 Kまで。
表面X線回折計 (Surface X-ray diffractometer)
- 設備ID
- QS-113
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 神津精機（株）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・半導体ヘテロ構造や多層膜、半導体量子ドット結晶やナノワイヤなどの成長過程について、原子が一層づつ積み上がってゆく様子を、表面X線回折法によってリアルタイム観察できる装置。
・原子状窒素を利用する分子線エピタキシー法により、GaNやInNなどの窒化物半導体の成長を行うことができる。
・良質な電子材料の作成をサポート。
高温高圧プレス装置 (High-pressure and high-temperature X-ray deffractometer)
- 設備ID
- QS-141
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 有限会社オーサワシステムほか (Osawa system LLC/Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・高圧高温下での材料の状態変化や反応の進行を、白色X線を用いたエネルギー分散型X線回折法によって観察できる装置。
・圧力10万気圧まで、温度2000℃程度までの発生が可能。
・材料の高温高圧合成をサポート。
・10万気圧、1000℃程度までの超高圧高温の水素雰囲気発生もでき、高温高圧下の金属水素化反応のその場観察による新規水素貯蔵材料の探索に活用されている。
コヒーレントX線回折イメージング装置 (Diffractometer for coherent X-ray diffraction imaging)
- 設備ID
- QS-221
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- HUBER社（ドイツ）ほか (Huber Diffraktionstechnik GmbH & Co. KG, etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・微小結晶粒（粒径：数十nm～数μm）を対象に、形状だけでなく、電子顕微鏡では観察が困難な内部構造（歪分布や欠陥、空洞、ドメイン等）を非破壊・非接触で３次元可視化できる装置。
・硬X線領域のブラッグ反射を用いたコヒーレントX線回折イメージング法を利用する。
・各種ナノ材料の評価をサポート。
・試料温度は室温～1100℃の範囲で設定可能。その他の試料環境制御は要相談。
高速2体分布関数計測装置 (Diffractometer for rapid-acquisition pair distribution function measurement)
- 設備ID
- QS-222
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- （株）リガクほか (Rigaku Corporation, etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・結晶の平均構造からのずれや局所構造を評価できる原子2体分布関数（PDF）の導出に必要な測定を高速に行う装置。
・粉末X線回折による結晶構造解析も可能。
・最高70 keVの高エネルギーX線の利用により最大Q = 27 Å-1までのX線全散乱測定が可能であり、約100 Åまでの距離相関のPDFが導出可能。
・窒素吹付冷凍機を用いた低温測定、および、1 MPa未満の水素と窒素ガス雰囲気でのその場観察が可能。
・デジタルX線検出器により計測一点につき数秒～数分で実施できる。
X線構造解析装置 (X-ray structure analyser)
- 設備ID
- NR-301
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab9kW/IP/HY/N
- 仕様・特徴
- ・Ge(220)2結晶装着可
・温度可変試料台
・反射率測定可
微小単結晶X線構造解析装置 (Single crystal X-ray structure analyser)
- 設備ID
- NR-302
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- VariMax RAPID RA-Micro7
- 仕様・特徴
- ・低温窒素吹付装置