共用設備検索結果
精密構造解析用X線回折装置 (Powder X-ray diffractometer)
- 設備ID
- UE-018
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab/R/Kα1/RE
- 仕様・特徴
- 装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を搭載。膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定など、専門的な知識がなくとも測定可能。
試料水平型強力X線回析装置 (X-ray diffractometer)
- 設備ID
- SH-005
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab 9K
- 仕様・特徴
- ⾼フラックス9 kW回転対陰極X線発⽣装置
ハイブリッドピクセルアレイ検出器
単結晶X線構造解析装置群 (Single Crystal X-ray Diffractometer)
- 設備ID
- NI-008
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク/MBRAUN (Rigaku/MBRAUN)
- 型番
- VariMax with DW RAPID/UNIlab
- 仕様・特徴
- ●単結晶X線回折装置（VariMax with DW RAPID）
イメージングプレート型 測角範囲（-60º～+144º）
線源 Cu /Moの選択が可能
室温～−180ºCでの測定が可能
小さい単結晶（～0.05Å角程度の微小結晶）も測定可能
●グローブボックス（UNIlab）
N2（またはAr）下における少量のサンプル調整（合成）が可能、冷蔵庫内蔵（4ºC）、電子天秤あり
単結晶X線回折（CCD-1） (Single crystal X-ray diffraction (CCD-1))
- 設備ID
- MS-205
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MERCURY CCD-1・R-AXIS IV
- 仕様・特徴
- X線源 Mo、50kV・100mA(5kW)
検出器 MERCURY CCD
温度可変 100～400K
単結晶X線回折（CCD-2） (Single crystal X-ray diffraction (CCD-2))
- 設備ID
- MS-206
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MERCURY CCD-2
- 仕様・特徴
- X線源 Mo、50kV・100mA(5kW)
検出器 MERCURY CCD
温度可変 100～400K
単結晶X線回折（微小結晶用） (Single crystal X-ray diffraction (for small crystals))
- 設備ID
- MS-207
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- HyPix-AFC
- 仕様・特徴
- X線源 Mo、50kV・16mA(0.8kW)
検出器 HyPix-6000HE
温度可変 100K～RT、24K～100K
微小結晶対応
結晶スポンジ法を用いた分子構造解析 (Molecular structure analysis using the crystalline sponge method)
- 設備ID
- MS-208
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLAB P200
- 仕様・特徴
- XtaLAB P200
X線源 回転対陰極型、Mo/Cuデュアル線源 Mo: 50 kV・24 mA (1.2 kW) Cu: 40 kV・30 mA (1.2 kW)
検出器 PILATUS 200K
温度可変 100 K〜室温
粉末X線回折 (Powder x-ray diffraction)
- 設備ID
- MS-209
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- RINT-UltimaIII
- 仕様・特徴
- X線源 Cu、40kV・40mA(2kW)
光学系 集中法、平行ビーム法、小角散乱
検出器 シンチレーションカウンタ
温度可変 40〜300K
オプション モノクロメーター、高分解能PSA
オペランド多目的X線回析 (Operando Multipurpose X-ray diffraction)
- 設備ID
- MS-210
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- Malvern Panalytical (Malvern Panalytical)
- 型番
- Empyrean
- 仕様・特徴
- X線源 Cu、45kV・40mA(1.8kW)、Mo、60kV・50mA(3kW)
光学系 Cu、Bragg-Bretano HD、集光ミラー、2結晶Ge(220)ハイブリッドモノクロメーター、X線レンズ
Mo、集光ミラー、2結晶Ge(220)ハイブリッドモノクロメーター
検出器 プロポーショナル検出器、半導体検出器
温度可変 -180～500℃、RT～1200℃
X線溶液散乱計測システム (X-ray solution scattering measurement system)
- 設備ID
- MS-211
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- NANO-Viewer
- 仕様・特徴
- 高輝度X線発生装置 RA-Micro７
X線輝度：31kW/mm2 出力：1.2kW カメラ長 500ｍｍ
ビームサイズ 0.07ｘ0.7ｍｍ クラツキーブロック
コンフォーカルミラー 2次元検出器 PILATUS200K
循環送水装置 制御・データ処理装置