共用設備検索結果
電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 (1300 kVHigh Voltage Electron Microscope )
- 設備ID
- KU-001
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-1300NEF
- 仕様・特徴
- オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV、電子線トモグラフィ、レーザーパルス光照射、その場観察、冷却・加熱引張試験
収差補正走査/透過電子顕微鏡 (Cs corrected scannning transmission electron microscope )
- 設備ID
- KU-002
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 (High resolution SEM with TES high energy resolution EDS)
- 設備ID
- KU-003
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス、カールツァイス (Hitachi High-Tech Science)
- 型番
- Zeiss-ULTRA55 ＋ SII-TES
- 仕様・特徴
- 超伝導転移端検出器による高感度組成・状態分析(10eV@6KeV)、SDD(150mm2)検出器による組成・状態分析
収差補正高分解能電子顕微鏡 (Cs corrected atomic resolution electron microscope )
- 設備ID
- KU-007
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析
ハイコントラスト補助電子顕微鏡 (Conventional high contrast electron microscope)
- 設備ID
- KU-009
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100HCKM
- 仕様・特徴
- 組織観察/電子解析図形収集の汎用機、加速電圧：100,120,200ｋV、CMOSカメラ(4K)
低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 (Cryonenic analytical TEM)
- 設備ID
- KU-016
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM300F2
- 仕様・特徴
- 低温域での高分解能電顕観察、照射系・結像系の収差補正、EDS(158mm2 SDD) による高感度組成・状態分析電子線トモグラフィ、その場観察、電圧印加、加熱・冷却・ガス雰囲気、磁区観察、加速電圧：80, 200, 300 kV、電位・化学組成複合解析システム
XAFS/SAXS計測ビームライン (XAFS/SAXS Synchrotron Beamline)
- 設備ID
- KU-017
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 専用装置（独自開発） ((original))
- 型番
- 専用装置（独自開発）
- 仕様・特徴
- 高輝度シンクロトロン光を利用した計測装置、硬X線
X線回折装置群 (X-ray diffraction system)
- 設備ID
- KU-514
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLabMicroMax-007HFNANO-Viewer KMYC
- 仕様・特徴
- 【全自動水平型多目的Ｘ線回折装置：SmartLab】
・小角散乱アタッチメントで0.1°からの測定可能（小角分解能0.1°/2θ）
・シンチレーションカウンターおよびD/TEX検出器搭載
・CALSA 超高分解スパイラルアナライザ
・粉末サンプルの定性分析・結晶化度評価・結晶子サイズ可能
【単結晶X線解析装置：MicroMax-007HF】
・高輝度迅速型のＸ線単結晶構造解析装置。
・微小焦点化・高輝度化されており迅速な測定、微小試料の測定が可能。
・X線集光ミラーにVariMax、X線検出部にHypix-6000搭載
・低温吹付装置（窒素）で温度制御可能。
【小角X線散乱装置NANO-Viewer KMYC】
・半導体直接検出型2次元検出器PILATUS100K/R搭載
・バルクサンプルの数nm~数百nm程度の構造評価が可能
・薄膜サンプルの配向評価が可能
・3 msecでの高速読み取りが可能
電界放射型分析電子顕微鏡 (Analytical FEG-TEM)
- 設備ID
- HK-102
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2010F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：200kV
・TEM分解能：0.23nmn
・熱電界放出電子銃
・分析機能：EDS、EELS
・遠隔観察
マルチビーム超高圧電子顕微鏡 (Multi-Beam HVEM)
- 設備ID
- HK-103
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- ARM-1300
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：1250kV
・TEM分解能：0.12nmn
・LaB6熱電子銃
・300K、400Kイオン加速器
・ナノ秒パルスレーザー
・He-Cd CWレーザー
・フェムト秒レーザー
・CCD分光器
・遠隔観察