共用設備検索結果
200kV透過電子顕微鏡 (200kV transmission electron microscope)
- 設備ID
- NM-505
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100
- 仕様・特徴
- ・熱電子銃
・加速電圧: 80, 100, 120, 160, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
マイクロX線CT (Micro X-ray CT)
- 設備ID
- TU-313
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- コムスキャンテクノ (Comscantecno)
- 型番
- ScanXmate D160TS110
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～6インチ
小さいサンプルの方が拡大率が大きくなり分解能向上
XRD (XRD)
- 設備ID
- TU-323
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー・エイエックスエス (Bruker)
- 型番
- D8 DISCOVER
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～6インチ
高出力全自動水平型多目的X線回折装置 (Intelligent X-ray Diffraction System )
- 設備ID
- TU-515
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 株式会社リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- SmartLab 9SW
- 仕様・特徴
- ・最大出力 9 kW
・θ-θ型試料水平高精度ゴニオメータ
（-3°～160°、ゴニオ半径300 mm）
・インプレーンアーム 2θχ（-3°～120°）
・DSCユニット（室温～350 ℃）
・Cuターゲット
無機微小結晶構造解析装置 (X-ray Single Crystal Diffractometer)
- 設備ID
- UT-201
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク㈱ (Rigaku Co.)
- 型番
- VariMax Dual
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
・ これまで放射光でないと回折強度測定が困難であった数十μｍ角以下の低分子およびタンパ質結晶や一片が10μｍ以下の結晶などの微小結晶の構造解析が可能
・ 高輝度X線源と湾曲型人工多層膜ミラーの組み合わせにより、結晶位置に高輝度X線を導くことが可能
・ Mo/Cu両方の線源を使用可能であり無機・有機化合物の構造解析を線源に依存することなく測定可能
□ 主な仕様
・ X線源：1.2kW発生装置 / 実効輝度31kW/mm2/ Mo・Cuターゲット
・ X線光学素子（VariMax Dual）：湾曲型人工多層膜ミラー Mo・Cu両波長に対応した光学素子
・ 検出器：高感度・広ダイナミックレンジ2次元検出器により迅速な測定が可能
・シャッターを開放のまま、ゴニオメーター連続駆動をしてのシームレス測定が可能
・結晶を-180℃までの冷却が可能
高輝度In-plane型X線回折装置 (XRD)
- 設備ID
- UT-202
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ㈱リガク (Rigaku Co.)
- 型番
- SmartLab(9kW)
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
・ 高輝度Ｘ線源 及び In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したＸ線回折装置。
・ 粉末試料測定に適した集中法光学系，薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系によるＸ線反射率測定，逆格子マップ測定，ロッキングカーブ測定などを簡単なユニット交換で組み替えて利用することが可能。
・ インプレーンアームの搭載により、極薄膜の評価や完全極点測定が可能。
□ 主な仕様
・ X線源：9kW回転対陰極X線発生装置A/Cuターゲット
・ 光学系：集中法・多層膜平行ビーム法・薄膜高分解平行ビーム法・インプレーン光学系
・ 検出器：HyPix-3000
粉末X線回折装置 (XRD)
- 設備ID
- UT-203
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ㈱リガク (Rigaku Co.)
- 型番
- SmartLab (3kW)
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
・ 粉末試料測定に適した集中法光学系，薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系。
・ In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したＸ線回折装置。
・ 900℃までの高温測定用アタッチメントも用意している。
□ 主な仕様
・ X線源：3 kW封入型Ｘ線管/Cuターゲット
・ 光学系：集中法・多層膜平行ビーム法・インプレーン光学系
・ 検出器：シンチレーション検出器：1次元半導体検出器
・SmartLab用AntonPaarDHS900アタッチメント
X線粉末回折装置 (X-ray Diffractometer (Powder Diffraction))
- 設備ID
- NU-002
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク社 (Rigaku)
- 型番
- Smart Lab 3K1d/2dDSC
- 仕様・特徴
- ・最大出力：9kW
・検出器：シンチレーションカウンター、半導体1次元検出器、二次元検出器
・Cuターゲット
・試料水平配置
微小単結晶X線構造解析装置 (Single crystal X-ray diffractometer)
- 設備ID
- NU-019
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Rigaku(株) (Rigaku)
- 型番
- VariMax
- 仕様・特徴
- ・分解能可変X線集光ミラー搭載
・輝度：31kW/mm2
・電動カメラ長可変機構（25 - 110mm)
・CCD検出器（70mm x 70mm)
・Mo線源
・試料吹きつけ冷却装置（-180℃～室温)
X線回折装置 (Intelligent X-Ray Diffractometer)
- 設備ID
- KT-310
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・試料水平保持方式
薄膜試料に歪み等を与えることなく取り付けることができ、最大サイズ8インチΦの試料の測定、および4インチΦの場合はエリアマップ測定が可能
・多彩な薄膜評価
組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価、膜厚分析、界面ラフネス分析、密度分析、面内均一性評価など
・粉末解析に
定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など
・試料サイズ 最大φ8インチ
・組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価等の測定可能