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薄膜X線回折装置_Cu  (TF-XRD_Cu)

設備ID
NM-216
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
薄膜X線回折装置_Cu
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
SmartLab
仕様・特徴
・薄膜測定
・小角散乱測定
・X線反射率

全自動X線回折装置 (Automated X-ray diffractometer)

設備ID
NU-266
設置機関
名古屋大学
設備画像
全自動X線回折装置
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
SmartLab 9kW
仕様・特徴
・線源:Cu Kα線 9kW
・光学系:集中法,平行ビーム法,インプレーン
・多層膜ミラー,Geモノクロメーター付き
・検出器:HyPix-3000二次元検出器
・測定モード:θ-2θスキャン,ロッキングカーブ,逆格子面マッピング,膜面内φスキャン,φ-2θχスキャンなど

高性能単結晶X線自動解析装置 (High-performance Single Crystal X-ray Automatic Structure Analysis System)

設備ID
NR-304
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
高性能単結晶X線自動解析装置
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
XtaLAB Synergy-R/Cu
仕様・特徴
1. 単結晶X線構造解析装置本体(Cu Kα線源、定格最大出力1.2 kW)
2. 窒素ガス吹付型試料冷却装置(80 ~ 500 K)
3. ハイブリッドピクセル検出器(HyPix-6000HE)
4. 遠隔操作(除く試料交換&センターリング)

汎用電子顕微鏡 (Conventional STEM/TEM)

設備ID
KU-019
設置機関
九州大学
設備画像
汎用電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100F
仕様・特徴
組織観察、元素分析、電子解析図形収集の汎用機

単結晶X線解析 (Single Crystal X-ray Diffractometer)

設備ID
MS-235
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
設備画像
単結晶X線解析
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
XtaLAB Synergy-R/DW
仕様・特徴
極低温(100K~)からの測定が可能。高輝度X線源(PhotonJet-R/DW:出力1.2kW)と高速読み出しHPC検出器(HyPix-6000)の組み合わせで、超高速・超高精度測定が可能。

卓上型X線回折計_Cu_SMF (pXRD_Cu_SMF)

設備ID
NM-215
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
卓上型X線回折計_Cu_SMF
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
MiniFlex600_Cu
仕様・特徴
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cu Kα
・X線検出器:1次元型半導体式

卓上型粉末回折計_Cr_SCR (pXRD_Cr_SCR)

設備ID
NM-214
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
卓上型粉末回折計_Cr_SCR
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
MiniFlex600_Cr
仕様・特徴
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cr Kα
・X線検出器:1次元型半導体式

卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC2 (pXRD_Cu_ASC_NC2)

設備ID
NM-213
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC2
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
MiniFlex600_Cu
仕様・特徴
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cu Kα
・試料部:試料水平型
・X線検出器:1次元型半導体式
・6連自動試料交換機

卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC1 (pXRD_Cu_ASC_NC1)

設備ID
NM-212
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC1
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
MiniFlex600_Cu
仕様・特徴
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cu Kα
・試料部:試料水平型
・X線検出器:1次元型半導体式
・6連自動試料交換機

高速・高感度型粉末X線回折装置_Cu_ASC_NS3 (pXRD_Cu_ASC_NS3)

設備ID
NM-211
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
高速・高感度型粉末X線回折装置_Cu_ASC_NS3
メーカー名
リガク (Rigaku)
型番
SmartLab3
仕様・特徴
・X線発生装置:最大出力3.0 kW
・X線波長:Cu Kα
・X線検出器:1次元型半導体式
・試料部:試料水平型
・6もしくは48連自動試料交換機
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