共用設備検索結果
薄膜X線回折装置_Cu (TF-XRD_Cu)
- 設備ID
- NM-216
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・薄膜測定
・小角散乱測定
・X線反射率
全自動X線回折装置 (Automated X-ray diffractometer)
- 設備ID
- NU-266
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab 9kW
- 仕様・特徴
- ・線源：Cu Kα線 9kW
・光学系：集中法，平行ビーム法，インプレーン
・多層膜ミラー，Geモノクロメーター付き
・検出器：HyPix-3000二次元検出器
・測定モード：θ－2θスキャン，ロッキングカーブ，逆格子面マッピング，膜面内φスキャン，φ－2θχスキャンなど
卓上型X線回折計_Cu_SMF (pXRD_Cu_SMF)
- 設備ID
- NM-215
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MiniFlex600_Cu
- 仕様・特徴
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
卓上型粉末回折計_Cr_SCR (pXRD_Cr_SCR)
- 設備ID
- NM-214
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MiniFlex600_Cr
- 仕様・特徴
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cr Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC2 (pXRD_Cu_ASC_NC2)
- 設備ID
- NM-213
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MiniFlex600_Cu
- 仕様・特徴
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Kα
・試料部：試料水平型
・X線検出器：1次元型半導体式
・６連自動試料交換機
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC1 (pXRD_Cu_ASC_NC1)
- 設備ID
- NM-212
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MiniFlex600_Cu
- 仕様・特徴
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Kα
・試料部：試料水平型
・X線検出器：1次元型半導体式
・６連自動試料交換機
高速・高感度型粉末X線回折装置_Cu_ASC_NS3 (pXRD_Cu_ASC_NS3)
- 設備ID
- NM-211
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab3
- 仕様・特徴
- ・X線発生装置：最大出力3.0 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
・試料部：試料水平型
・6もしくは48連自動試料交換機
温度可変型粉末X線回折装置_Cu1_NTS (pXRD_LT/HT_Cu1_R_NTS)
- 設備ID
- NM-210
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab 9 kW with cryostat/furnace
- 仕様・特徴
- ・高輝度X線発生装置：最大出力9 kW
・X線波長：Cu Kα1
・X線検出器：高性能1次元型半導体検出器（D/teX ULTRA 250）
・試料部：試料水平型
・低温装置：2.6 K～室温（真空）
・高温装置：室温～1500℃（空気、He、N2、O2、Ar、真空）
2波長Pilatus低温単結晶X線回折装置_NSC (sXRD_R_DW_LT_Pilatus_NSC)
- 設備ID
- NM-209
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- VariMax DW AFC11 with Pilatus
- 仕様・特徴
- ・X線波長：MoもしくはCu（自動切り替え）
・高輝度X線源：試料部輝度 31 kW/mm2
・X線検出器：高感度・低ノイズ型半導体検出器PILATUS200K
・角度分解能可変：カメラ長 40～115 mm
・30 K迄の極低温でのデータ収集が可能
X線回折装置（XRD） (X-ray diffractometer (XRD))
- 設備ID
- CT-033
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- D8 DISCOVER
- 仕様・特徴
- ・1次元粉末X線測定モジュール
・2次元広角/小角X線測定モジュール
・超小角（USAXS）測定モジュール
・GI-WAXD/SAXS測定モジュール
・高温試料チャンバー（室温~1100℃）