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表面・界面分子振動解析装置 (Surface・interface molucular vibration analysis system)
- 設備ID
- KU-503
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 東京インスツルメンツ (Tokyo Instruments )
- 型番
- Spectra-Physics
- 仕様・特徴
- ・検出器：STREAK SCOPE C4334（浜松ホトニクス）/検出器：光電子増倍管（浜松ホトニクス）ピコ秒YAGレーザー(EKSPLA社) 励起パルス幅：1.5 ps、励起波長：400 nm付近、偏光オプション付き,測定範囲：1500～4000 cm-1
X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscope)
- 設備ID
- HK-201
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 仕様・特徴
- 標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV（モノクロX線源）
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30μmφ～3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
オージェ電子分光装置 (Auger electron spectroscope)
- 設備ID
- HK-202
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JAMP-9500F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:0.5～30kV、プローブ電流:10-11～2×10-7A
二次電子分解能:3nm
オージェ分析プローブ径最小:8nm
アルゴンイオンエッチング銃
EBSD測定(TSLソリューションズ ORION検出器)
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
Spectrum investigator、Spectrum Imaging
電界放出形電子プローブマイクロアナライザー (Field emission electron probe micro analyzer (FE-EPMA))
- 設備ID
- HK-303
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8530F
- 仕様・特徴
- 加速電圧：1～30kV
分析機能：WDS
陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA) (Positron Probe MicroAnalyzer (PPMA))
- 設備ID
- AT-501
- 設置機関
- 産業技術総合研究所（AIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 産総研自主開発 (AIST Original)
- 型番
- 仕様・特徴
- 電子の反粒子である陽電子のマイクロビームを作り、物質中の陽電子寿命のマッピング測定を行う装置。
原子が1個抜けた原子空孔、ナノボイドのサイズ、分布の評価が可能。
・陽電子源 ： 電子加速器対生成方式
・陽電子ビーム径 ： 0.01 mm ～ 10 mm
・陽電子ビームエネルギー ： 1-30 keV
・寿命測定時間分解能 ： 200-300 ps
電子線元素状態分析装置 (Electron Probe Micro Analyzer)
- 設備ID
- UE-011
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8530F
- 仕様・特徴
- 最高加速電圧: 200kV, 倍率: ×50-1,500,000
格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm
リモート対応型電子線マイクロアナライザー (Remote-controlled electron probe microanalyzer)
- 設備ID
- SH-010
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-iHP200F
- 仕様・特徴
- 2次電子分解能 2.5nm
分析元素Ｂ～Ｕ
ＷＤＳ：５基、ＥＤＳ１基
最大試料100mm×100mm×50mm
加速電圧1～30kV
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer)
- 設備ID
- NI-011
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- PHI TRIFTV nano TOF
- 仕様・特徴
- 質量分解能：9000M/Δm以上
スペクトル測定およびマッピング、深さ分析
サンプルの大気非暴露測定可
高精度ガス/蒸気吸着量測定装置 (Surface Area and Pore Size Distribution Analyzer)
- 設備ID
- NI-013
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本ベル (MicrotracBEL)
- 型番
- BELSORP-max
- 仕様・特徴
- 細孔分布：直径0.35～500nm
最小比表面積：0.01m2/ｇ（N2）
放射光メスバウアー分光装置 (Synchrotron radiation Mössbauer spectrometer)
- 設備ID
- QS-111
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 神津精機（株）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・物質・材料の磁性および電子状態や格子振動を顕微観察できる、超高輝度なγ線を利用して、鉄のメスバウアー分光を行う装置。
・微小試料や薄膜、更には、斜入射法や同位体置換試料を利用することで、金属薄膜の表面・界面部を１原子層毎に磁気探査することが可能。
・スピントロニクス・磁性材料研究をサポート。
・鉄以外にニッケルを対象元素とした観察が可能。それ以外の元素については要相談。
・内部転換電子メスバウアー測定による、固体試料の非破壊分析が可能。