共用設備検索結果
中分類から探す
マルチガス導入グロー放電質量分析システム（VG9000） (Glow Discharge Mass Spectrometer (GD-MS))
- 設備ID
- NM-230
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株) (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- VG9000
- 仕様・特徴
- 1.質量分析器：Nier-Johnson配置二重収束型
2.イオン検出器：ファラデー検出器、イオン計数デイリー検出器
3.質量分析範囲：7～240 amu
4.プラズマ・イオン種：Ar、He
5.液体窒素冷却型試料冷却システム
微小部蛍光X線分析装置（ORBIS PC） (Micro Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer（Micro-EDXRF))
- 設備ID
- NM-228
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- アメテック株式会社 (AMETEK, Inc.)
- 型番
- ORBIS PC
- 仕様・特徴
- 1.X線源：マイクロフォーカス型Rh管球
2.X線出力：電圧～50 kV、電流～1 mA
3.X線集光部：30 μm径ポリキャピラリー
4.X線検出器：液体窒素レス型SSD検出器
5.測定可能元素種：Na～U3. 大型試料(最大サイズ：270 × 270 × 100 mm
6.デュアルCCD(10倍、75倍、3倍ズーム)
汎用電子顕微鏡 (Conventional STEM/TEM)
- 設備ID
- KU-019
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 組織観察、元素分析、電子解析図形収集の汎用機
電子プローブマイクロアナライザ（EPMA） (Electron Probe Micro Analyzer)
- 設備ID
- MS-236
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8230 SS-94000SXES 軟X線分光器搭載
- 仕様・特徴
- 50 eVまでの低エネルギーを測定できる軟X線分光器（SXES）を搭載。
グロー放電分光分析装置 (Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry)
- 設備ID
- WS-032
- 設置機関
- 早稲田大学
- 設備画像
- メーカー名
- 株式会社堀場製作所 (HORIBA, Ltd.)
- 型番
- GDA750
- 仕様・特徴
- 軽元素（N, O, H等）の分析可能、分析範囲4mmφ以上、10mm□以上4"までのSi、ガラス基板
表面プラズモン共鳴装置 (Surface plasmon resonance (SPR) instrument)
- 設備ID
- NM-007
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- サイティバ (Cytiva)
- 型番
- Biacore X100
- 仕様・特徴
- ・非標識で分子間相互作用解析が可能。
・ベースラインノイズ：<0.1 RU (RMS)
・フローセル容量：0.06 µL
・データ取得間隔：1 Hz
・測定温度：25℃（固定）
・オートサンプラー：最大15サンプル
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS))
- 設備ID
- NM-205
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ(株) (ULVAC-PHI)
- 型番
- PHI TRIFT V nanoTOF
- 仕様・特徴
- ・全二次イオンの同時測定が可能
・二次イオン・イメージング法：投影モード、操作モード
・Biクラスター・イオン・ビーム搭載
電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置 (Field Emission Electron Probe Micro-Analyzer (FE-EPMA))
- 設備ID
- NM-207
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8500F
- 仕様・特徴
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧：1～30 kV
・照射電流：10 pA ～500 nA
・測定可能元素：Be～U
・最大試料サイズ：100 x 100 x 20 mm
超微量元素計測システム(SIMS) (SIMS)
- 設備ID
- UT-306
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- カメカ (Cameca)
- 型番
- NanoSIMS 50L
- 仕様・特徴
- □主な用途
微小領域の分析、高空間分解能でのイメージング分析に優れた二次イオン質量分析装置。
□主な用途
・ 一次イオン源：セシウムおよび酸素
・最小ビーム径：50nm （セシウム）
・質量分析計：高性能二重収束型質量分析計
・高感度、高質量分解能での元素・同位体測定が可能。
・最大7種類の二次イオン像の同時検出ができる
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 (High resolution SEM with TES high energy resolution EDS)
- 設備ID
- KU-003
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス、カールツァイス (Hitachi High-Tech Science)
- 型番
- Zeiss-ULTRA55 ＋ SII-TES
- 仕様・特徴
- 超伝導転移端検出器による高感度組成・状態分析(10eV@6KeV)、SDD(150mm2)検出器による組成・状態分析