共用設備検索結果
"その他"で検索した結果 9件
フリーワード検索
中分類から探す
マルチガス導入グロー放電質量分析システム(VG9000) (Glow Discharge Mass Spectrometer (GD-MS))
- 設備ID
- NM-230
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![マルチガス導入グロー放電質量分析システム(VG9000)](data/facility_item/1719214599_11.jpg)
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株) (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- VG9000
- 仕様・特徴
- 1.質量分析器:Nier-Johnson配置二重収束型
2.イオン検出器:ファラデー検出器、イオン計数デイリー検出器
3.質量分析範囲:7~240 amu
4.プラズマ・イオン種:Ar、He
5.液体窒素冷却型試料冷却システム
微小部蛍光X線分析装置(ORBIS PC) (Micro Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer(Micro-EDXRF))
- 設備ID
- NM-228
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![微小部蛍光X線分析装置(ORBIS PC)](data/facility_item/1719214535_11.jpg)
- メーカー名
- アメテック株式会社 (AMETEK, Inc.)
- 型番
- ORBIS PC
- 仕様・特徴
- 1.X線源:マイクロフォーカス型Rh管球
2.X線出力:電圧~50 kV、電流~1 mA
3.X線集光部:30 μm径ポリキャピラリー
4.X線検出器:液体窒素レス型SSD検出器
5.測定可能元素種:Na~U3. 大型試料(最大サイズ:270 × 270 × 100 mm
6.デュアルCCD(10倍、75倍、3倍ズーム)
汎用電子顕微鏡 (Conventional STEM/TEM)
- 設備ID
- KU-019
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
![汎用電子顕微鏡](data/facility_item/1712127109_11.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 組織観察、元素分析、電子解析図形収集の汎用機
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 (High resolution SEM with TES high energy resolution EDS)
- 設備ID
- KU-003
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
![マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置](data/facility_item/KU-003.jpg)
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス、カールツァイス (Hitachi High-Tech Science)
- 型番
- Zeiss-ULTRA55 + SII-TES
- 仕様・特徴
- 超伝導転移端検出器による高感度組成・状態分析(10eV@6KeV)、SDD(150mm2)検出器による組成・状態分析
X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscope)
- 設備ID
- HK-201
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![X線光電子分光装置](data/facility_item/1651472232_14.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 仕様・特徴
- 標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV(モノクロX線源)
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30μmφ~3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
オージェ電子分光装置 (Auger electron spectroscope)
- 設備ID
- HK-202
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![オージェ電子分光装置](data/facility_item/1651472260_14.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JAMP-9500F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:0.5~30kV、プローブ電流:10-11~2×10-7A
二次電子分解能:3nm
オージェ分析プローブ径最小:8nm
アルゴンイオンエッチング銃
EBSD測定(TSLソリューションズ ORION検出器)
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
Spectrum investigator、Spectrum Imaging
陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA) (Positron Probe MicroAnalyzer (PPMA))
- 設備ID
- AT-501
- 設置機関
- 産業技術総合研究所(AIST)
- 設備画像
![陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA)](data/facility_item/AT-501.jpg)
- メーカー名
- 産総研自主開発 (AIST Original)
- 型番
- 仕様・特徴
- 電子の反粒子である陽電子のマイクロビームを作り、物質中の陽電子寿命のマッピング測定を行う装置。
原子が1個抜けた原子空孔、ナノボイドのサイズ、分布の評価が可能。
・陽電子源 : 電子加速器対生成方式
・陽電子ビーム径 : 0.01 mm ~ 10 mm
・陽電子ビームエネルギー : 1-30 keV
・寿命測定時間分解能 : 200-300 ps
高精度ガス/蒸気吸着量測定装置 (Surface Area and Pore Size Distribution Analyzer)
- 設備ID
- NI-013
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
![高精度ガス/蒸気吸着量測定装置](data/facility_item/NI-013.jpg)
- メーカー名
- 日本ベル (MicrotracBEL)
- 型番
- BELSORP-max
- 仕様・特徴
- 細孔分布:直径0.35~500nm
最小比表面積:0.01m2/g(N2)
放射光メスバウアー分光装置 (Synchrotron radiation Mössbauer spectrometer)
- 設備ID
- QS-111
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構(QST)
- 設備画像
![放射光メスバウアー分光装置](data/facility_item/QS-111.jpg)
- メーカー名
- 神津精機(株)ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
- 型番
- なし(特別仕様)
- 仕様・特徴
- ・物質・材料の磁性および電子状態や格子振動を顕微観察できる、超高輝度なγ線を利用して、鉄のメスバウアー分光を行う装置。
・微小試料や薄膜、更には、斜入射法や同位体置換試料を利用することで、金属薄膜の表面・界面部を1原子層毎に磁気探査することが可能。
・スピントロニクス・磁性材料研究をサポート。
・鉄以外にニッケルを対象元素とした観察が可能。それ以外の元素については要相談。
・内部転換電子メスバウアー測定による、固体試料の非破壊分析が可能。
"その他"で検索した結果 9件