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円二色性分散計 (Circular dichroism meter)
- 設備ID
- UE-015
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO Corporation)
- 型番
- J-720W
- 仕様・特徴
- 各種溶液（光路長1mmと10mmのセル），固体物質の場合はペレット状に加圧整形しても測定可能
MCD（磁気円二色性）測定用の永久磁石を付属
ペルチェ冷却式温度制御装置を設置可能
走査型オージェ電子分光顕微鏡 (SAM)
- 設備ID
- JI-011
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- SAM670Xi
- 仕様・特徴
- 元素分析：原子番号3以上
最大加速電圧：25kV
走査電子ビーム径：15nm以下（加速電圧20kV、電流１nA）
エネルギー分析：0-3200 eV
超高真空
X線光電子分光装置 (XPS)
- 設備ID
- JI-013
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 島津クレートス (Shimadzu/Kratos)
- 型番
- AXIS- ULTRA DLD
- 仕様・特徴
- 測定可能元素 Li～U
X線源 Mg/Al 特性X線、AlKαモノクロメータX線
紫外光源：He放電管
最小プローブ 40μmφ
分析深さ 数nm
最大試料サイズ 100mm（X）×25mm（Y）×10mm（Z）
イメージング 空間分解能 3μm以下 元素像および化学状態像
深さ分析可能 エッチングイオン銃使用
傾斜分析可能 0～90°・紫外光分光分析（UPS）可能
大気中光電子分光装置 (PYS)
- 設備ID
- JI-014
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 理研計器 (RIKEN KEIKI)
- 型番
- AC-2
- 仕様・特徴
- 大気中試料のイオン化エネルギー測定可能
検知範囲：3.4-6.2eV
正・逆光電子分光装置 (PYS+IPES)
- 設備ID
- JI-015
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- テックサイエンス (TECH SCIENCE)
- 型番
- PYS-200+IPES
- 仕様・特徴
- -現在利用停止中-（故障中で復帰の目途が立っておりません）
PYS-200
測定エネルギー：4-9 eV
分解能：20 meV
測定領域：2 mmφ
IPES
測定エネルギー：5-50 eV
分解能：0.3 eV
測定領域：1 mmφ
大気非曝露試料搬送
露点管理された専用グローブボックス内N2雰囲気下にてシャトルチャンバー内基板ホルダーに試料をセットし、 シャトルチャンバーを分光装置に連結、排気することで試料の大気非曝露搬送が可能。
光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscopy)
- 設備ID
- SH-004
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- アルバックファイ (Ulvac Phi)
- 型番
- QuanteraⅡ
- 仕様・特徴
- ディユアルビーム方式帯電中和
絶縁物分析可能
分析領域：7.5μ～1.4mm
オージェ電子顕微鏡 (Auger electron microscope)
- 設備ID
- SH-008
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JAMP-9510
- 仕様・特徴
- FE電子銃 加速電圧 0.5～30kV
静電半球アナライザ
レーザラマン分光装置 (Laser Raman Spectrometer)
- 設備ID
- SH-009
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- レニショー (RENISHAW)
- 型番
- inVa Reflex
- 仕様・特徴
- シングルモノクロメーター、焦点距離250mm、明るさf/4
レーザ 532nm
メスバウアー分光装置群 (Mössbauer Spectrometer)
- 設備ID
- NI-004
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- ラボラトリ・イクイップメント、 WissEl、Montana Instruments、他 (Laboratory equipment corporation, WissEl, Montana Instruments, etc.)
- 型番
- 複合システム
- 仕様・特徴
- 57Fe 核，119Sn 核
透過法，内部転換電子検出法
低温測定 (4~350 K)が可能
X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectrometer)
- 設備ID
- NI-005
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- Quantes
- 仕様・特徴
- 線源：Al-Kα, Cr-Kα
低エネルギー電子とイオン同時照射による帯電中和
アルゴンモノマー／クラスター切り替え可能なデュアルイオン銃を搭載
-120℃～250℃（試料ステージ上）