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走査電子顕微鏡装置群 (Scanning electron microscope system)
- 設備ID
- KU-511
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズキーエンス (Hitachi High-TechKEYENCE)
- 型番
- SU9000、VE-8800
- 仕様・特徴
- 【超高分解能走査電子顕微鏡装置：SU9000】
・SEM(空間分解能0.4nm)とSTEM(空間分解能0.34nm)の高分解能同視野観察
・30kV以下の低加速観察
・コールドFE電子銃
・EDSによる高解像度元素マッピング
・含水サンプルの凍結観察個体表面における原子の分布を高分解能マッッピング
【3次元SEM画像測定解析システムVE-8800 KEYENCE】
・加速電圧0.5-20kV
・さまざまな有機／無機／複合材料表面構造解析低加速電圧観察可能(0.5 kV)
・非導電性試料でも非蒸着で観察可能
X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscope)
- 設備ID
- HK-201
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 仕様・特徴
- 標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV（モノクロX線源）
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:30μmφ～3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
オージェ電子分光装置 (Auger electron spectroscope)
- 設備ID
- HK-202
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JAMP-9500F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:0.5～30kV、プローブ電流:10-11～2×10-7A
二次電子分解能:3nm
オージェ分析プローブ径最小:8nm
アルゴンイオンエッチング銃
EBSD測定(TSLソリューションズ ORION検出器)
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
Spectrum investigator、Spectrum Imaging
X線光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectrometer)
- 設備ID
- HK-406
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JPS-9200
- 仕様・特徴
- 標準X線源Mg/Alツインアノード
モノクロX線源
エネルギー分解能:0.65eV（モノクロX線源）
アルゴンイオンエッチング銃
分析径:3μmφ～3mmφ
最大20点まで連続分析可、分析エリア:20mm×50mm
大気中紫外光電子分光装置 (Photoemission Yield Spectroscopy in Air)
- 設備ID
- HK-408
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 理研計器 (Riken Keiki)
- 型番
- AC-3
- 仕様・特徴
- 測定エネルギー：4.0eV-7.0eV
顕微紫外可視近赤外分光装置 (UV/Vis/NIR Microscopic Spectrophotometer)
- 設備ID
- HK-409
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- MSV-5200
- 仕様・特徴
- 反射、透過測定
光電子増倍管、冷却型PbS光導電素子
測定波長域：200nm-2700nm
カセグレン対物32倍
自動XYZステージ
紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR Spectrometer)
- 設備ID
- CT-001
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- V-670DS
- 仕様・特徴
- ・測定範囲： 190~3,200 nm
フーリエ変換赤外分光光度計（FTIR)/赤外顕微鏡 (Fourier transform infrared spectrometer (FTIR)/Micro FTIR spectrometer)
- 設備ID
- CT-002
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- FT/IR-6600IRT-5200
- 仕様・特徴
- FT/IR-6600, IRT-5200
・測定範囲： 7,800～350 cm-1
IRT-5200
・分解能：2 cm-1
ラマンイメージング (Raman imaging microscope)
- 設備ID
- CT-003
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- レニショー (Renishaw)
- 型番
- inVia
- 仕様・特徴
- ・レーザー波長：325 nm、532 nm、785 nm
・二次元・三次元マッピング機能（0.1 μm位置再現性）
・波数域：100～4,000 cm-1
・温度調節ステージ
顕微ラマン分光 (Raman microscope)
- 設備ID
- CT-004
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- フォトンデザイン (PHOTON Design)
- 型番
- RSM-310
- 仕様・特徴
- ・レーザー波長：1,064 nm
・マッピング機能あり