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収差補正走査/透過電子顕微鏡 (Cs corrected scannning transmission electron microscope )
- 設備ID
- KU-002
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析
広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 (30-200 kV Atomic resolution analytical electron microscope)
- 設備ID
- KU-004
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200CF
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS（100mm2 SDD２機搭載 立体角1.7sr)/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧：30, 60, 80, 120, 200ｋV、その場観察、 加熱・冷却・電圧印加・ガス雰囲気
収差補正高分解能電子顕微鏡 (Cs corrected atomic resolution electron microscope )
- 設備ID
- KU-007
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析
三次元原子分解能透過電子顕微鏡 (3D analyltical STEM/TEM)
- 設備ID
- KU-010
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Titan G2 60-300
- 仕様・特徴
- 電子銃モノクロメータ、トモグラフィー
低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 (Cryonenic analytical TEM)
- 設備ID
- KU-016
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM300F2
- 仕様・特徴
- 低温域での高分解能電顕観察、照射系・結像系の収差補正、EDS(158mm2 SDD) による高感度組成・状態分析電子線トモグラフィ、その場観察、電圧印加、加熱・冷却・ガス雰囲気、磁区観察、加速電圧：80, 200, 300 kV、電位・化学組成複合解析システム
XAFS/SAXS計測ビームライン (XAFS/SAXS Synchrotron Beamline)
- 設備ID
- KU-017
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 専用装置（独自開発） ((original))
- 型番
- 専用装置（独自開発）
- 仕様・特徴
- 高輝度シンクロトロン光を利用した計測装置、硬X線
電子状態測定システム (X-ray photoelectron spectrometer)
- 設備ID
- KU-501
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 ( Shimazu )
- 型番
- AXIS-ULTRA
- 仕様・特徴
- ・測定範囲10～1500 eVを25meV以下のステップ、
・分析面積15μmφ～
・Mg/AlデュアルX線源、出力～450W
・イオンポンプ、真空到達度10-10 Pa
・Arエッチング可能、
・予備室内での加熱処理対応、
・大面積試料バーで複数試料の同時マウントが可能
・元素マッピング可能
レーザラマン分光光度計装置群 (Laser Raman Microscope system)
- 設備ID
- KU-504
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- ナノフォトン、カイザーオプティカルシステムズ (Nanophoton, Kaiser Optical Systems)
- 型番
- RAMANtouch、RAMAN RXN Systems
- 仕様・特徴
- 【高速レーザーラマン顕微鏡：RAMANtouch】
・倒立顕微鏡ベースの光学系。InGaAs検出器での近赤外発光同視野測定を実現。
・励起レーザー3本搭載（532nm、633nm、785nm）
・回折限界に迫る350nmの空間分解能
・ラインスキャンによる超高速イメージング
・100 cm-1から測定可能
・z方向１ミクロンの高い空間分解能
・スペクトル分解能（FWHM）＝1.2cm-1 （@785nm、1200gr/mm）
【RAMAN RXN Systems】
・HoloPlexTM透過型グレーティング、ノッチフィルター使用F値：1.8
・搭載レーザー 785nm/400ｍW 検出器 電子冷却CCD検出器
・測定波長範囲 100～3450cm-1 分解 4cm-1
紫外可視近赤外分光測定装置装置群 (UV-Vis-NIR spectrometer)
- 設備ID
- KU-505
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所日本分光パーキンエルマー (ShimazuJASCOPerkinElmer)
- 型番
- SolidSpec-3700DUVV-670SpotLight400
- 仕様・特徴
- 【紫外可視近赤外分光測定装置:V-670】
・Abs=7まで測定可能、積分球対応、液体測定温度制御可能、
・固体、液体サンプル測定可能、
・積分球を用いた拡散反射スペクトル測定可能
【UV-Vis-NIR分光光度計：SolidSpec-3700DUV】
・測定波長 165～3300 nm(但し積分球測定は175 nm～2600 nm) 分解能0.1nm、
・大型鏡面反射測定，積分球ﾕﾆｯﾄ（固体測定），
・直接測光ﾕﾆｯﾄ(液体測定）深紫外領域測定対応、InGaAs検出器搭載、
・温度制御セルチェンジャー対応可能（多量サンプル測定可能）、測定温度制御可能
【中赤外・遠赤外吸収測定装置：Spectrum400 FT-IR/FIR SpotLight400 IRイメージング】
・ラインスキャンによる高速IRイメージング。
・ATRプローブによる顕微ATR測定、遠赤外領域のATR測定対応
・プローブによるポイント反射・透過IR測定も可能。
・測定範囲7800～650 cm-1 、4500～680 cm-1でのATR測定
・赤外顕微鏡 (イメージング機能)、イメージング分解能6.25 μm～
近赤外蛍光分光装置群 (Fluorolog-NIR spectrofluorometer)
- 設備ID
- KU-507
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 堀場JOBIN YVON (Horiba JOBIN YVON)
- 型番
- NanoLOG-EXT
- 仕様・特徴
- 【NanoLOG-EXT】
・スペクトル並びに励起光―発光イメージング可能
・測定温度制御可能励起:700-1000nm,
・蛍光:1100-2000 nm