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紫外・可視・近赤外分光光度計 (Ultraviolet / visible / near-infrared spectrophotometer)
- 設備ID
- MS-228
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 (SHIMADZU)
- 型番
- UV-3600Plus
- 仕様・特徴
- 波長範囲：185 nm ～ 3300 nm
絶対PL量子収率測定装置 (Absolute PL quantum yield measurement)
- 設備ID
- MS-229
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 浜松ホトニクス (HAMAMATSU PHOTONICS)
- 型番
- Quantaurus-QY C11347-01
- 仕様・特徴
- PL波長範囲：300 nm ～ 950 nm
円二色性分散 (Circular Dichroism (CD) spectrometer)
- 設備ID
- MS-230
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- J-1500
- 仕様・特徴
- 163〜1600 nm
ピコ秒レーザー (Picosecond laser)
- 設備ID
- MS-231
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- Spectra-Physics (Spectra-Physics)
- 型番
- Quantronix Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS
- 仕様・特徴
- 490-800nm, 1180-1700nm, RGA 1.5 W @790 nm, <5ps, 1kHz
レーザーラマン顕微鏡 (Laser Raman Microscope)
- 設備ID
- OS-127
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- ナノフォトン株式会社 (Nanophoton Corporation)
- 型番
- RAMANtouch VIS-NIR-OUN
- 仕様・特徴
- 【特徴】
試料の分子構造や結晶性の評価が可能な高精度レーザーラマン顕微鏡です。
【仕様】
ライン照射（イメージング）スポット照射（マッピング）
レーザー波長：532nm,785nm（出力500mW）
空間分解能：X;500 nm,Y;350 nm,Z; 1000 nm(@532nm,100X,0.90NA)
スペクトル分解能(FWHM)：1.2cm-1(@785nm,1200gr/nm)
スペクトルピクセル分解能：0.3cm-1(@785nm,1200gr/nm)
回折格子3枚：300gr/mm,600gr/mm,1200gr/mm
ピーク量子効率：90%
ライン照射（イメージング）、スポット照射（マッピング）が可能
共焦点、広視野電動ステージ
高輝度放射光XAFSシステム (XAFS measuring station)
- 設備ID
- AE-003
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- カスタム (Home-made)
- 型番
- なし
- 仕様・特徴
- 試料中の特定元素の原子価や局所構造を決定
・エネルギー範囲：4～72keV
・測定方法：通常の透過法／微量元素用の蛍光法、通常のStepScan／高速計測対応（QuickScan）
・試料：少量核燃物質、国際規制物資、RI・アクチノイド試料
・KBミラーによる数十μm程度の空間分解能
・クライオスタットによる低温測定
・電気炉による高温測定
エネルギー分散型XAFS装置 (Energy-dispersive XAFS measuring station)
- 設備ID
- AE-006
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- カスタム (Home-made)
- 型番
- なし
- 仕様・特徴
- 元素の局所構造・電子状態を時間分解観測
・観測可能元素：Ti以上
・温度：20-1000 K
・測定レート：最大100 Hz
・ガスフロー制御システムあり
・ポテンシオスタットによる電気化学測定可能
放射光メスバウアー分光装置 (Synchrotron radiation Mössbauer spectrometer)
- 設備ID
- QS-111
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 神津精機（株）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・物質・材料の磁性および電子状態や格子振動を顕微観察できる、超高輝度なγ線を利用して、鉄のメスバウアー分光を行う装置。
・微小試料や薄膜、更には、斜入射法や同位体置換試料を利用することで、金属薄膜の表面・界面部を１原子層毎に磁気探査することが可能。
・スピントロニクス・磁性材料研究をサポート。
・鉄以外にニッケルを対象元素とした観察が可能。それ以外の元素については要相談。
・内部転換電子メスバウアー測定による、固体試料の非破壊分析が可能。
軟X線光電子分光装置 (Soft X-ray photoelectron spectrometer)
- 設備ID
- AE-007
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- カスタム（電子分析アナライザー: VG Scienta） (Home-made (Electron Analyzer: VG Scienta))
- 型番
- 電子分析アナライザー: SES-2002
- 仕様・特徴
- 角度分解光電子分光（ARPES）測定も可能な光電子分光装置。希土類及び3d遷移金属化合物の詳細な電子構造を調べることができる。
・光エネルギー：400-1500 eV
・エネルギー分解能：50-200 meV
・試料温度：6-300 K
共鳴非弾性X線散乱装置 (Resonant inelastic X-ray scattering spectrometer)
- 設備ID
- QS-112
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 神津精機（株）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・入射Ｘ線、散乱（発光）Ｘ線の双方のエネルギーを0.1 eV程度のエネルギー分解能でＸ線分光実験が可能な装置。
・通常のXAFSよりも高エネルギー分解能のXAFS（HERFD-XAFS）やＸ線発光分光（XES）により触媒等の詳細な電子状態のその場観察実験が可能。
・ガス雰囲気や電位をかけた状態などでのオペランド計測も実施。
・４軸回折計配置で共鳴非弾性Ｘ線散乱（RIXS）により強相関電子系物質等の電子励起の運動量依存性が測定できる。
・試料温度は10 Kから800 Kまで。