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微小部蛍光X線分析装置（ORBIS PC） (Micro Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer（Micro-EDXRF))
- 設備ID
- NM-228
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- アメテック株式会社 (AMETEK, Inc.)
- 型番
- ORBIS PC
- 仕様・特徴
- 1.X線源：マイクロフォーカス型Rh管球
2.X線出力：電圧～50 kV、電流～1 mA
3.X線集光部：30 μm径ポリキャピラリー
4.X線検出器：液体窒素レス型SSD検出器
5.測定可能元素種：Na～U3. 大型試料(最大サイズ：270 × 270 × 100 mm
6.デュアルCCD(10倍、75倍、3倍ズーム)
X線光電子分光分析装置（XPS-Quantera SXM） (XPS (Quantera SXM))
- 設備ID
- NM-225
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- QuanteraSXM
- 仕様・特徴
- ・走査型単色Al Kα集束X線源
・最小X線ビーム径：9µm
・X線源パワー：1～50 W
・エネルギー分解能：＞0.5 eV（Ag 3d5/2)
・最大試料サイズ： 60 x 60 x 5 mm
フーリエ変換赤外分光計（FT/IR-6700） (Fourier transform infrared spectrometer (FT/IR-6700))
- 設備ID
- NM-223
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- FT/IR-6700
- 仕様・特徴
- 測定波数範囲:7800～350cm-1、最高分解能:0.25cm-1、ATR、RAS付属
蛍光分光計（Fluorolog-3） (Spectrofluorometer (Fluorolog-3))
- 設備ID
- NM-222
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 堀場製作所 (HORIBA)
- 型番
- Fluorolog-3
- 仕様・特徴
- ・光源：450W Xeランプ
・高感度光電子増倍管(PMT)検出器
・測定波長範囲：600-1400 nm
・波長分解能：1.5 nm
分光蛍光光度計（FP-8500DS） (Spectrofluorometer (FP-8500DS))
- 設備ID
- NM-221
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- FP-8500DS
- 仕様・特徴
- ・光源：150W Xeランプ
・測定波長範囲：200～850 nm (励起側/蛍光側)
・波長走査速度：10～60,000 nm/min (励起側)、20～120,000 nm/min (蛍光側)
紫外可視近赤外分光計（V-770） (UV-Vis-NIR (V-770))
- 設備ID
- NM-220
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- V-770
- 仕様・特徴
- ・光源：重水素ランプ、ハロゲンランプ
・測定波長範囲：190～3200 nm
・測光正確さ：±0.0015 Abs（0～0.5 Abs）、±0.025 Abs（0.5～1 Abs）、±0.3％T
・付属試料ホルダー：標準セルホルダー、フィルムホルダー、回転試料ホルダー、１回反射測定ユニット、積分球ユニット
フーリエ変換赤外分光光度計（IRAffinity-1S） (FT-IR (IRAffinity-1s))
- 設備ID
- NM-219
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 (Shimadzu)
- 型番
- IRAffinity-1s/AIM-9000
- 仕様・特徴
- ＜IRAffinity-1s使用時＞
・ATR法 / 透過法
・波数範囲：7800～400 cm-1 (DLATGS検出器)
・ATRプリズム：ダイヤモンド (屈折率2.4)
＜AIM-9000使用時 (赤外顕微)＞
・ATR法 / 透過法 / 反射法
・波数範囲：4000～400 cm-1 (TGS検出器)、4000～700cm-1 (MCT検出器)
・ATRプリズム：Ge (屈折率4.2)
全反射蛍光X線分析装置TXRF-3760 (Total internal reflection fluorescence X-ray analyzer)
- 設備ID
- UT-862
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- （株）リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- TXRF 3760
- 仕様・特徴
- ウェーハ表面上の汚染を非破壊・非接触で高感度に分析。
液体窒素フリー検出器を備えた3ビームTXRFシステム。
ナトリウムからウランまでの元素検出が可能。
解析に時間と経験を要するため、当面技術代行（代行料が上乗せになる）にての公開。
顕微レーザーラマン分光測定装置 (Laser Raman Microscope system)
- 設備ID
- HK-631
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- HORIBA Jobin Yvon (HORIBA Jobin Yvon)
- 型番
- LabRAM HR-Evolution type pa nano
- 仕様・特徴
- 励起波長： 633nm
測定波長範囲：100-4000cm-1
分光器焦点距離：800mm
光学配置：ツェルニターナ配置
グレーティング：600、1800 gr/mm
検出器： CCD検出器 (Open Electrodeタイプ)
スペクトル分解能(FWHM)：0.35 cm-1 )@633nm, 1800gr/mm)
ICP発光分光分析装置 (Inductively coupled plasma optical emission spectrometer)
- 設備ID
- NI-020
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津サイエンス (Shimadzu Corporation)
- 型番
- ICPE-9820
- 仕様・特徴
- 1．ICP発光分光分析装置本体（マルチチャンネル型、波長範囲167～800 nm）
2．フッ酸試料導入オプション
3．オートサンプラ（15ml容器60本自動測定）