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"エックス線吸収端構造解析 （nearedgeを含む）"で検索した結果 5件
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XAFS/SAXS計測ビームライン (XAFS/SAXS Synchrotron Beamline)
- 設備ID
- KU-017
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 専用装置（独自開発） ((original))
- 型番
- 専用装置（独自開発）
- 仕様・特徴
- 高輝度シンクロトロン光を利用した計測装置、硬X線
超伝導蛍光収量Ｘ線吸収微細構造分析装置 (SC-XAFS) (X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopy with a Superconducting Fluorescence Detector (SC-XAFS))
- 設備ID
- AT-502
- 設置機関
- 産業技術総合研究所（AIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 産総研自主開発 (AIST Original)
- 型番
- 仕様・特徴
- エネルギー分散超伝導検出器を搭載し、母材中の微量軽元素や重い元素のL、M線のＸ線吸収微細構造測定により、特定の微量元素の原子スケール構造解析を行う。省エネ半導体ドーパント、酸化物、磁性体などの原子配位や電子状態を評価する。
・蛍光Ｘ線エネルギー分解能 ： 10 eV
・エネルギー範囲 ： 70eV-5000eV(<1keV:超伝導､> 2keV:半導体)
・アレイ検出器素子数 ：100
・光子計数率 ： 1 Mcps
・冷却 ： 液体ヘリウムを使用せず機械式冷凍機による自動冷却（0.3K)
高輝度放射光XAFSシステム (XAFS measuring station)
- 設備ID
- AE-003
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- カスタム (Home-made)
- 型番
- なし
- 仕様・特徴
- 試料中の特定元素の原子価や局所構造を決定
・エネルギー範囲：4～72keV
・測定方法：通常の透過法／微量元素用の蛍光法、通常のStepScan／高速計測対応（QuickScan）
・試料：少量核燃物質、国際規制物資、RI・アクチノイド試料
・KBミラーによる数十μm程度の空間分解能
・クライオスタットによる低温測定
・電気炉による高温測定
エネルギー分散型XAFS装置 (Energy-dispersive XAFS measuring station)
- 設備ID
- AE-006
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- カスタム (Home-made)
- 型番
- なし
- 仕様・特徴
- 元素の局所構造・電子状態を時間分解観測
・観測可能元素：Ti以上
・温度：20-1000 K
・測定レート：最大100 Hz
・ガスフロー制御システムあり
・ポテンシオスタットによる電気化学測定可能
共鳴非弾性X線散乱装置 (Resonant inelastic X-ray scattering spectrometer)
- 設備ID
- QS-112
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 神津精機（株）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・入射Ｘ線、散乱（発光）Ｘ線の双方のエネルギーを0.1 eV程度のエネルギー分解能でＸ線分光実験が可能な装置。
・通常のXAFSよりも高エネルギー分解能のXAFS（HERFD-XAFS）やＸ線発光分光（XES）により触媒等の詳細な電子状態のその場観察実験が可能。
・ガス雰囲気や電位をかけた状態などでのオペランド計測も実施。
・４軸回折計配置で共鳴非弾性Ｘ線散乱（RIXS）により強相関電子系物質等の電子励起の運動量依存性が測定できる。
・試料温度は10 Kから800 Kまで。
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