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"オージェ電子分光"で検索した結果 5件
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走査型オージェ電子分光分析装置 (Scanning Auger Electron Microprobe (CHA Type AES))
- 設備ID
- NM-208
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![走査型オージェ電子分光分析装置](data/facility_item/NM-208.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JAMP-9500F
- 仕様・特徴
- ・ショットキー電界放射電子銃
・空間分解能:<8 nm
・加速電圧:0.5~30 kV
・照射電流:0.1~100 nA
・測定元素:Li~U
・最大試料サイズ:14 x 14 x 5 mm
・半球型アナライザー搭載
オージェ分光分析装置 (Auger Electron Spectroscopy)
- 設備ID
- UT-854
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
![オージェ分光分析装置](data/facility_item/1651461066_14.jpg)
- メーカー名
- アルバック (ULVAC)
- 型番
- PHI680
- 仕様・特徴
- 元素分析装置。 対象の極表面から出て来るオージェ電子のエネルギー分光計測によって元素を調べることが出来る。
アルゴンミリングと併用でき、深さ方向のプロファイルを測定することができる。
オージェ電子分光装置 (Auger electron spectroscope)
- 設備ID
- HK-202
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
![オージェ電子分光装置](data/facility_item/1651472260_14.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JAMP-9500F
- 仕様・特徴
- 加速電圧:0.5~30kV、プローブ電流:10-11~2×10-7A
二次電子分解能:3nm
オージェ分析プローブ径最小:8nm
アルゴンイオンエッチング銃
EBSD測定(TSLソリューションズ ORION検出器)
トランスファーベッセル
画面共有システムによる遠隔立ち会い
Spectrum investigator、Spectrum Imaging
走査型オージェ電子分光顕微鏡 (SAM)
- 設備ID
- JI-011
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
- 設備画像
![走査型オージェ電子分光顕微鏡](data/facility_item/JI-011.jpg)
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- SAM670Xi
- 仕様・特徴
- 元素分析:原子番号3以上
最大加速電圧:25kV
走査電子ビーム径:15nm以下(加速電圧20kV、電流1nA)
エネルギー分析:0-3200 eV
超高真空
オージェ電子顕微鏡 (Auger electron microscope)
- 設備ID
- SH-008
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
![オージェ電子顕微鏡](data/facility_item/SH-008.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JAMP-9510
- 仕様・特徴
- FE電子銃 加速電圧 0.5~30kV
静電半球アナライザ
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