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共用設備検索結果
"その他"で検索した結果 18件
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- 設備ID
- KU-016
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM300F2
- 仕様・特徴
- 低温域での高分解能電顕観察、照射系・結像系の収差補正、EDS(158mm2 SDD) による高感度組成・状態分析電子線トモグラフィ、その場観察、電圧印加、加熱・冷却・ガス雰囲気、磁区観察、加速電圧：80, 200, 300 kV、電位・化学組成複合解析システム
- 設備ID
- JI-014
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 理研計器 (RIKEN KEIKI)
- 型番
- AC-2
- 仕様・特徴
- 大気中試料のイオン化エネルギー測定可能
検知範囲：3.4-6.2eV
- 設備ID
- JI-015
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- テックサイエンス (TECH SCIENCE)
- 型番
- PYS-200+IPES
- 仕様・特徴
- -現在利用停止中-（故障中で復帰の目途が立っておりません）
PYS-200
測定エネルギー：4-9 eV
分解能：20 meV
測定領域：2 mmφ
IPES
測定エネルギー：5-50 eV
分解能：0.3 eV
測定領域：1 mmφ
大気非曝露試料搬送
露点管理された専用グローブボックス内N2雰囲気下にてシャトルチャンバー内基板ホルダーに試料をセットし、 シャトルチャンバーを分光装置に連結、排気することで試料の大気非曝露搬送が可能。
- 設備ID
- NI-004
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- ラボラトリ・イクイップメント、 WissEl、Montana Instruments、他 (Laboratory equipment corporation, WissEl, Montana Instruments, etc.)
- 型番
- 複合システム
- 仕様・特徴
- 57Fe 核，119Sn 核
透過法，内部転換電子検出法
低温測定 (4~350 K)が可能
- 設備ID
- MS-212
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- Scienta Omicron (Scienta Omicron)
- 型番
- DA30
- 仕様・特徴
- 光電子分光装置（光電子分析器、真空紫外光源、試料冷却機構、真空チェンバー）
光電子分析器 エネルギー分解能1meV以下、
角度精度0.1度以下、空間分解能 10ミクロン以下
真空紫外光源 希ガス共鳴線（主として、21.218 eV, 40.814 eV)
試料冷却機能 温度範囲 8-300K
真空チェンバー 測定槽真空度7x10-9Pa以下
- 設備ID
- MS-229
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 浜松ホトニクス (HAMAMATSU PHOTONICS)
- 型番
- Quantaurus-QY C11347-01
- 仕様・特徴
- PL波長範囲：300 nm ～ 950 nm
- 設備ID
- MS-231
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- Spectra-Physics (Spectra-Physics)
- 型番
- Quantronix Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS
- 仕様・特徴
- 490-800nm, 1180-1700nm, RGA 1.5 W @790 nm, <5ps, 1kHz
- 設備ID
- QS-111
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 神津精機（株）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・物質・材料の磁性および電子状態や格子振動を顕微観察できる、超高輝度なγ線を利用して、鉄のメスバウアー分光を行う装置。
・微小試料や薄膜、更には、斜入射法や同位体置換試料を利用することで、金属薄膜の表面・界面部を１原子層毎に磁気探査することが可能。
・スピントロニクス・磁性材料研究をサポート。
・鉄以外にニッケルを対象元素とした観察が可能。それ以外の元素については要相談。
・内部転換電子メスバウアー測定による、固体試料の非破壊分析が可能。
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