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共用設備検索結果
"その他"で検索した結果 18件
- 18件中 1~10件
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- 設備ID
- UT-862
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- TXRF 3760
- 仕様・特徴
- ウェーハ表面上の汚染を非破壊・非接触で高感度に分析。
液体窒素フリー検出器を備えた3ビームTXRFシステム。
ナトリウムからウランまでの元素検出が可能。
解析に時間と経験を要するため、当面技術代行(代行料が上乗せになる)にての公開。
- 設備ID
- NM-203
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 1-3, 6. アジレント・テクノロジー 4. 日立ハイテクサイエンス 5. サーモフィッシャーサイエンティフィック (1-3, 6. Agilent Technology 4. Hitachi High-Tech Science Corporation 5. Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- 1. 720 ICP-OES 2. Agilent5800 3. Agilent7850 4. SPS3520DD-UV 5. Element XR 6. Agilent5800
- 仕様・特徴
- 1,2,6.多波長同時測定による高速測定(世界最速)/低濃度溶液から高濃度溶液を希釈なし測定
2,6共通.測光方向を軸方法及び横方向に切り替えて測定可能
3. 高速双極線型四重極分析/スペクトル干渉除去
4. 高スペクトル分解能逐次測定/低濃度溶液から高濃度溶液を測定/Cl,Br測定
3,5 共通 元素の検出下限濃度bbtレベル以下
5. 高質量分解能二重収束型質量分析/溶液試料中の極微量元素測定(Li~U)
- 設備ID
- NM-206
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- LECOジャパン合同会社 (LECO JAPAN CORPORATION)
- 型番
- ONH836CS844
- 仕様・特徴
- 酸素・窒素・水素解析部はインパルス加熱/赤外線検出方式及び熱伝導度検出方式である。
分析範囲:[酸素]10 ppm~3%,
[窒素]10 ppm~3%(試料重量1g時)
[水素]10 ppm~2500ppm(試料重量1g時)
炭素・硫黄解析部は高周波加熱炉/赤外線検出方式である。
分析範囲:[炭素]10 ppm~6%,
[硫黄]10 ppm~6%
(試料重量1g時)
- 設備ID
- UT-858
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子㈱ (JEOL)
- 型番
- JSM-6610LV Oxford X-max50 + Energy 250
- 仕様・特徴
- エネルギー分散型X線分析装置(元素分析装置)付きの走査電子顕微鏡です。
- 設備ID
- NU-001
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Perkin Elmer社 (PerkinElmer)
- 型番
- 2400Ⅱ CHNS/O
- 仕様・特徴
- ・サンプル量分析範囲 : ~500 mg(固体、液体)*目的元素含有量に依存
・C(0.001~3.6 mg)、H(0.001~1.0 mg)N(0.001~6.0 mg)、S(0.001~2.0 mg)
・測定方式: 静的燃焼、フロンタルクロマトグラフィー、TCD検出
- 設備ID
- KU-001
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-1300NEF
- 仕様・特徴
- オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV、電子線トモグラフィ、レーザーパルス光照射、その場観察、冷却・加熱引張試験
- 設備ID
- KU-002
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析
- 設備ID
- KU-004
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200CF
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS(100mm2 SDD2機搭載 立体角1.7sr)/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧:30, 60, 80, 120, 200kV、その場観察、 加熱・冷却・電圧印加・ガス雰囲気
- 設備ID
- KU-007
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析
- 設備ID
- KU-010
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンテ ィフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Titan G2 60-300
- 仕様・特徴
- 電子銃モノクロメータ、トモグラフィー
"その他"で検索した結果 18件
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