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電子スピン共鳴装置 (Electron spin resonator)

設備ID
UT-302
設置機関
東京大学
設備画像
電子スピン共鳴装置
メーカー名
日本電子株式会社 (JEOL)
型番
JES-FA300
仕様・特徴
□ 主な仕様
・ 測定帯域
Xバンド約9GHz/Qバンド約35GHz
・最低計測可能温度 10K以下
□主な用途
・電界誘起キャリア密度・ダイナミクスの評価
・磁気共鳴やg値の磁場依存性の評価

In-situ電子スピン共鳴 (In-situ electron spin resonance)

設備ID
NU-236
設置機関
名古屋大学
設備画像
In-situ電子スピン共鳴
メーカー名
Bruker (Bruker)
型番
EMX Premium X
仕様・特徴
・試料中に存在する不対電子のリアルタイム計測
・気体分析可能
・サンプルサイズ: 5 mm幅以下

電子スピン共鳴装置 (Electron spin resonance spectrometer)

設備ID
UE-008
設置機関
電気通信大学
設備画像
電子スピン共鳴装置
メーカー名
Bruker (Bruker)
型番
ELEXSYS
仕様・特徴
分光器は約9GHzの定常波を用いており,4.2Kから300Kの温度範囲で測定可能

電子スピン共鳴装置 (Electron Spin Resonance Spectrometer)

設備ID
NI-009
設置機関
名古屋工業大学
設備画像
電子スピン共鳴装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JES-RE1X
仕様・特徴
周波数:8800~9600MHz(Xバンド)
出力:0.1μW~200mW可変 測定対象:固体もしくは凍結サンプル 測定:77K

電子スピン共鳴(E680) (Electron spin resonance)

設備ID
MS-214
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
設備画像
電子スピン共鳴(E680)
メーカー名
Bruker (Bruker)
型番
E680
仕様・特徴
W-band [cw、pluse]
マグネット 超伝導マグネット (6T)+掃引コイル(700mT)
温度可変 3.8~300K
X-band [cw、pluse]、Q-band [pluse]
マグネット -50G~1.45T
温度可変 4~300K
オプション ENDOR、ナノ秒波長可変レーザー他

電子スピン共鳴(EMX) (Electron spin resonance)

設備ID
MS-215
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
設備画像
電子スピン共鳴(EMX)
メーカー名
Bruker (Bruker)
型番
EMX Plus
仕様・特徴
周波数 X-band [cw]
マグネット -50G~1.45T
温度可変 3.8~300K他
共振器 高感度、デュアルモード
オプション ゴニオメーター他

電子スピン共鳴(E500) (Electron spin resonance (E500))

設備ID
MS-216
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
設備画像
電子スピン共鳴(E500)
メーカー名
Bruker (Bruker)
型番
E500
仕様・特徴
周波数 X-band [cw]、Q-band [cw]
マグネット -50G~1.45T
温度可変 3.8~300K他
共振器 二重矩形、ENDOR他
オプション ゴニオメーター他

電子スピン共鳴(E580) (Electron spin resonance (E580))

設備ID
MS-217
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
設備画像
電子スピン共鳴(E580)
メーカー名
Bruker (Bruker)
型番
E580
仕様・特徴
磁⽯10インチ、12kW電源、X-band、パルス、テスラメータ

電子スピン共鳴装置 (Electron Spin Reasonance Spectrophotometer)

設備ID
NR-104
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
電子スピン共鳴装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JES-FA100N
仕様・特徴
・基準周波数:8.75~9.65GHz
・磁場掃引幅:0~±250mT
・磁場可変範囲:-10~650mT
・温度可変測定:高温および低温
・光源:高圧水銀ランプおよびキセノンランプ
・試料角度回転測定対応
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