共用設備検索
共用設備検索結果
- 設備ID
- UT-005
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM200F Thermal FE STEM
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・ 分解能：STEM明視野格子像 0.136nm
STEM暗視野格子像 0.082nm
TEM格子像 0.10nm
TEM粒子像 0.19nm
・ 倍率： STEM像 200～150,000,000倍
TEM像 50～2,000,000倍
・ 収差補正装置：照射系球面収差補正装置 組み込み
・ 検出器：エネルギー分散形X線分析装置 (SDD)、電子線エネルギー損失分光器（EELS）、
軽元素対応像検出器、CCD検出器（2k×2k,4k×2k）
- 設備ID
- UT-006
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-2800
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
電子顕微鏡観察を自動化。コントラスト＆ブライトネス、試料高さ、結晶方位あわせ、フォーカス、非点補正を自動調整。TEM、STEM、SEM、電子線回折の観察モードを瞬時に切り替え可能。高性能光学系採用により高分解能観察と高速分析を両立している。
□ 主な仕様
・分解能：二次電子像≦0.5nm,走査透過像 0.2nm,透過像(格子像) 0.1nm
・倍率：二次電子像 ×100～×150,000,000 走査透過像×100～×150,000,000 TEM像×500～×20,000,000
・ 電子銃：ショットキー型電界放出電子銃 加速電圧 200kV･100kV
・ 試料系：試料傾斜 X軸±25゜Y軸±30゜
・ 分析：EDS、EELS検出器を装備
- 設備ID
- UT-007
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-2010F
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（１）本体
加速電圧：80,100,120,160,200kV
電子線源：熱電界放射型
分解能：0.192nm（粒子像）
試料最大傾斜角：±20°
試料移動：モーター駆動
排気方式：スパッターイオン、油拡散ポンプ
（２）画像記録 Gtan社 UltraScan
（３）分析装置
２）エネルギー分散型分光器（EDS）
- 設備ID
- UT-009
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-2010HC
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（１）本体
加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV
電子線源 ： 単結晶LaB6
試料最大傾斜角 ： ±30°
試料移動 ： モーター駆動(X、Y、Z)
排気方式 ： ターボ分子ポンプ(TMP)
（２）画像記録 シートフィルムおよびデジタル画像
（３）分析機能：EDS
- 設備ID
- UT-010
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・ ショットキー型FE電子銃装備
・ 分解能＜0.31nm
・ EDS、EELS検出器装備
・ TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備
・ 極低温観察用クライオトランスファホルダ装備
・ CCD検出器（4k×4k,1k×1k）
・加速電圧：200kV、120kV
- 設備ID
- UT-011
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-1400
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・ 分解能＜0.38nm
・ オートフォーカス及び自動モンタージュ機能（自動つなぎ合わせ及び自動コントラスト補正）
・ 自動モンタージュは縦5枚×横5枚（合計2500万画素）が可能で、分解能を維持したままの大面積観察・超高速スクリーニングに対応可能。
・加速電圧：120kV
- 設備ID
- UT-101
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JSM-7500FA
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
ジェントルビーム機能を搭載し加速電圧1kVで1.4nmの高分解能
□ 主な仕様
・二次電子像分解能：1.0nm（15kV）、1.4nm（1kV）
・倍率：×25～×1,000,000
・加速電圧：0.1kV～30kV
- 設備ID
- UT-102
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JSM-7800F Prime
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（1）本体
加速電圧：0.5～30 kV
0.5～2.9 kVは10 Vステップ
2.9～30 kVは100 Vステップ
二次電子分解能：1.0 nm（加速電圧15kV, 通常時）
1.5 nm（加速電圧1kV, 通常時）
0.7 nm（加速電圧15kV, GB時）
1.2 nm（加速電圧1kV, GB時）
0.7 nm（加速電圧1kV, GBSH時）
倍率：×25 ～ 1,000,000
プローブ電流：10-12 ～ 2×10-7 A
（2）エネルギー分散形X線分析装置（JEOL JED-2300F）
検出器：シリコンドリフト検出器
エネルギー分解能：129 eV
検出可能元素：Be ～ U
（3）カソードルミネッセンス測定装置（HORIBA MP-32S）
波長測定領域：185 nm ～ 900 nm（PMT）
200 nm ～ 1100 nm（CCD）
※ 光経路が空気中であるため、紫外領域の感度は低減される
（4）半導体反射電子検出器（RBEI）
（5）走査透過型電子検出器（STEM）
- 設備ID
- UT-103
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JSM-7000F
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（１）本体
加速電圧：0.5～30kV 0.5～2.9kVは10Vステップ可変
2.9～30kVは100Vステップ可変
二次電子分解能：1.2nm（加速電圧30kV），3.0nm (加速電圧1kV）
倍率：×10（WD40）～500,000
プローブ電流：10-12～2×10-7A
（２）結晶方位測定装置（株式会社TSLソリューションズ）
ソフトウェアー OIM Ver7.3.1
（３）高感度反射電子検出器
（４）走査透過電子検出器(STEM)
- 設備ID
- UT-104
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JSM-6510LA
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（１）本体
加速電圧：0.5～30kV 0.5～3.0kVは100Vステップ可変 3～30kVは1kVステップ可変
二次電子分解能：
高真空モード：3.0nm（加速電圧30kV），15.0nm（加速電圧1kV）
低真空モード：4.0nm（加速電圧30kV）
倍率：×5～300,000
プローブ電流：1pA～1μA
試料室圧力調整範囲：10～270Pa
（２）エネルギー分散型X線分析装置（日本電子）
検出器：エクストラミニカップEDS検出器
エネルギー分解能129eV以下
検出可能元素 Be～U
分析時分解能：3.0nm（加速電圧15kV・プローブ電流15nA・WD10mm）
（３）反射電子検出器（Si P-N複合型半導体検出器）
"東京大学"で検索した結果 115件
- 115件中 21～30件
- ＜
- 1
- 2
- 3
- 4
- 5
- 6
- 7
- 8
- ...
- 12
- ＞