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共用設備検索結果
"質量分析"で検索した結果 34件
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- 設備ID
- TU-609
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- ヤナコテクニカルサイエンス (Yanaco)
- 型番
- YHS-11
- 仕様・特徴
- ・構成：試料導入装置（HAS-25）、試料燃焼ユニット（HNS-18)、燃焼ガス吸収ユニット（HSU-45）、イオンクロマトグラフ（ICA-2000)
・イオンクロマトグラフ部：電気伝導度検出器（ダイナミツクレンジ：512mS/m）、脱気装置と恒温槽ユニットが一体型
- 設備ID
- NU-018
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker社 (Bruker)
- 型番
- MALDI TOF MS autoflex max
- 仕様・特徴
- Resolution ： ≥ 26,000 for Somatostatin 28 (m/z 3,147.47)FWHM
Mass range ： Up to 300,000 m/z
Laser type ： BRUKER smartbeam™-II laser, 355 nm Wavelength
Linear TOF , Reflector TOF , TOF/TOF-Method , High-energy CID-Method
- 設備ID
- NU-027
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- BRUKER社 (BRUKER Corporation)
- 型番
- timsTOF Pro
- 仕様・特徴
- 分解能：60,000
スキャン速度：＞100Hz
取り込み：PASEF
ソース：ESI
サイズ：980×1400×2570
- 設備ID
- KU-506
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所Bruker日本分光大塚電子日本分析工業 ( Shimazu Bruker JASCOOtsuka Electronics Japan Analytical Industry)
- 型番
- NexeraX2micrOTOF-QIIIJ-1500DLS-8000DLLC-908-C60
- 仕様・特徴
- 【超高速HPLC分離・分子構造分析システム】
NexeraX2
・130MPaの高耐圧化した超高速HPLC。PDA検出器装備
micrOTOF-QIII
・ｲｵﾝ化ﾓｰﾄﾞ ESI，APCI 精密質量測定，MS/MS可。
ＣＤ（円二色性検出器）：J-1500
・163～1600nm Wﾌﾟﾘｽﾞﾑﾓﾉｸﾛで迷光0.0003%以下。
・電気化学フローセルに接続した電気化学計測検出器。
DLS8000DL
・静的光散乱 重量平均分子量3×102～2×107。
・動的光散乱による粒径測定1.4nm～7μm，レーザー He/Ne，Ar+
・絶対分子量測定可能な多角度静的光散乱検出器
【分取HPLCシステムLC-908-C60】
・２H、４Hカラム装備
・分取HPLCシステム（グラムオーダーの分取が可能）
・大型のカラム接続によるサンプルの大量分取が可能
・１回のインジェクション量は10 mL
- 設備ID
- KU-509
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- BRUKER (Bruker)
- 型番
- Autoflex max
- 仕様・特徴
- 【Autoflex max】
・ペプチドやタンパク質の同定や、配列解析。
・分子の質量から、有機化合物の同定
・合成高分子の分子量分布や、末端構造などの解析。
・分解能 26,000 FWHM (分子量 3147 m/z において)
・質量範囲 最大500,000まで
・質量精度 2（内部標準）ppm
・レーザー smartbeam II
・レーザー周波数 LRF：2,000Hz(MS)
・TOF/TOF：2,000(MS)200
・リニア、高分解能リフレクトロン、MS/MS 測定が可能
【付帯設備：分離用小型超遠心機CS100GXL 日立工機社製】
・最高回転数100,000ｒｐｍ，加速度604,000xｇ
- 設備ID
- CT-028
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- アジレント (Agilent)
- 型番
- 6546LC/Q-TOF
- 仕様・特徴
- ・分解能：60,000
・高分子量領域：~30,000 m/z
・イオン源：ESI、APCI、マルチモードイオン源、ASAP
- 設備ID
- AT-038
- 設置機関
- 産業技術総合研究所（AIST)
- 設備画像
- メーカー名
- アルバックファイ (ULVAC PHI)
- 型番
- ADEPT-1010
- 仕様・特徴
- ・型式:ADEPT-1010
・試料サイズ:50mmφ
・一次イオン: O2（加速電圧 0.25-8.0kV）、Cs（加速電圧 0.25-11.0kV）
・ビーム径:75μmφ以下
・二次イオン質量分析計:四重極型
・分析モード:質量スペクトル測定、ライン分析、デプスプロファイル、二次イオンイメージ像
- 設備ID
- WS-024
- 設置機関
- 早稲田大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- iCAP Qc ICP-MS
- 仕様・特徴
- 2-290までの質量数の元素をアルゴンプラズマ内に噴霧、イオン化させ、元素固有の質量数をモニターする事により元素を超高感度（一例：Li(7)：約3ppt,
Na(23)：約2ppt, Zn(64)：約1ppt, Pb(208)：約0.5ppt）で検出が可能な装置
- 設備ID
- UE-013
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JMS-T100 Accu TOF
- 仕様・特徴
- 微量成分の精密質量測定(ミリマス測定)可能。イオン源には直交形ESIイオン源を装備
- 設備ID
- UE-019
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JMS-S3000
- 仕様・特徴
- 低分子領域であっても高い質量分解能で、選択性の高い局在情報を取得することが可能。
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