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飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS))

設備ID
NM-205
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
飛行時間型二次イオン質量分析装置
メーカー名
アルバック・ファイ(株) (ULVAC-PHI)
型番
PHI TRIFT V nanoTOF
仕様・特徴
・全二次イオンの同時測定が可能
・二次イオン・イメージング法:投影モード、操作モード
・Biクラスター・イオン・ビーム搭載

質量分析計 (GC-Tof MS)

設備ID
TU-605
設置機関
東北大学
設備画像
質量分析計
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JMS-T100GCV
仕様・特徴
・マスレンジ:m/z 4~4,000
・イオン化法:EI、FI(電解イオン化)、FD(電解脱離イオン化)
・質量分解能:m/z 617(PFK)で6000以上

液体クロマトグラフィー・分子構造分析装置群 (Liquid chromatography System)

設備ID
KU-506
設置機関
九州大学
設備画像
液体クロマトグラフィー・分子構造分析装置群
メーカー名
島津製作所Bruker日本分光大塚電子日本分析工業 ( Shimazu Bruker JASCOOtsuka Electronics Japan Analytical Industry)
型番
NexeraX2micrOTOF-QIIIJ-1500DLS-8000DLLC-908-C60
仕様・特徴
【超高速HPLC分離・分子構造分析システム】
NexeraX2
・130MPaの高耐圧化した超高速HPLC。PDA検出器装備
micrOTOF-QIII
・イオン化モード ESI,APCI 精密質量測定,MS/MS可。
CD(円二色性検出器):J-1500
・163~1600nm Wプリズムモノクロで迷光0.0003%以下。
・電気化学フローセルに接続した電気化学計測検出器。
DLS8000DL
・静的光散乱 重量平均分子量3×102~2×107
・動的光散乱による粒径測定1.4nm~7μm,レーザー He/Ne,Ar+
・絶対分子量測定可能な多角度静的光散乱検出器
【分取HPLCシステムLC-908-C60】
・2H、4Hカラム装備
・分取HPLCシステム(グラムオーダーの分取が可能)
・大型のカラム接続によるサンプルの大量分取が可能
・1回のインジェクション量は10 mL

MALDI-TOF MS質量分析装置  (Matrix-assisted laser desorption/ionization Time-of-Flight mass spectrometry)

設備ID
KU-509
設置機関
九州大学
設備画像
MALDI-TOF MS質量分析装置
メーカー名
BRUKER  (Bruker)
型番
Autoflex max
仕様・特徴
【Autoflex max】
・ペプチドやタンパク質の同定や、配列解析。
・分子の質量から、有機化合物の同定
・合成高分子の分子量分布や、末端構造などの解析。
・分解能 26,000 FWHM (分子量 3147 m/z において)
・質量範囲 最大500,000まで
・質量精度 2(内部標準)ppm
・レーザー smartbeam II
・レーザー周波数 LRF:2,000Hz(MS)
・TOF/TOF:2,000(MS)200
・リニア、高分解能リフレクトロン、MS/MS 測定が可能
【付帯設備:分離用小型超遠心機CS100GXL 日立工機社製】
・最高回転数100,000rpm,加速度604,000xg

液体クロマトグラフィー質量分析計(LC/MS) (Liquid chromatography-mass spectrometry (LC-MS))

設備ID
CT-028
設置機関
公立千歳科学技術大学
設備画像
液体クロマトグラフィー質量分析計(LC/MS)
メーカー名
アジレント (Agilent)
型番
6546LC/Q-TOF
仕様・特徴
・分解能:60,000
・高分子量領域:~30,000 m/z
・イオン源:ESI、APCI、マルチモードイオン源、ASAP

ESI-TOF型質量分析計 (ESI-TOF Mass spectrometer)

設備ID
UE-013
設置機関
電気通信大学
設備画像
ESI-TOF型質量分析計
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JMS-T100 Accu TOF
仕様・特徴
微量成分の精密質量測定(ミリマス測定)可能。イオン源には直交形ESIイオン源を装備

MALDI-スパイラルTOF 質量分析装置 (MALDI-TOF Mass spectrometer)

設備ID
UE-019
設置機関
電気通信大学
設備画像
MALDI-スパイラルTOF 質量分析装置
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JMS-S3000
仕様・特徴
低分子領域であっても高い質量分解能で、選択性の高い局在情報を取得することが可能。

マトリックス支援レーザー脱離イオン化タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI-TOF/TOF MS)

設備ID
JI-005
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
設備画像
マトリックス支援レーザー脱離イオン化タンデム飛行時間型質量分析計
メーカー名
Bruker Daltonics (Bruker Daltonics )
型番
ultrafleXtreme
仕様・特徴
分解能 最大約 40,000
観測質量範囲 m/z 20 - 50万
試料の量 pmol - fmol order
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 MALDI
MS/MS(CID)

ガスクロマトグラフ質量分析計 (GC-MS)

設備ID
JI-006
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
設備画像
ガスクロマトグラフ質量分析計
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
AccuTOF GCX
仕様・特徴
気化室温度350℃
観測質量範囲 m/z 50 -800
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 EI, CI 熱分解装置使用可

液体クロマトグラフ質量分析計 (LC-MS)

設備ID
JI-007
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
設備画像
液体クロマトグラフ質量分析計
メーカー名
Waters (Waters)
型番
ACQUITY UPLC H-Class およびM-Class(ナノLC), SYNAPT XS
仕様・特徴
分解能 最大約 75000
観測質量範囲 m/z 50 - 64000
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 ESI, APCI, ナノESI
MS/MS(CID)
イオンモビリティー分析可
Progenesis QI for Proteomicsソフトウェア利用可
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