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"四重極質量分析"で検索した結果 4件
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二次イオン質量分析装置(D-SIMS) (Secondary Ion Mass Spectrometer (D-SIMS))
- 設備ID
- AT-038
- 設置機関
- 産業技術総合研究所（AIST)
- 設備画像
- メーカー名
- アルバックファイ (ULVAC PHI)
- 型番
- ADEPT-1010
- 仕様・特徴
- ・型式:ADEPT-1010
・試料サイズ:50mmφ
・一次イオン: O2（加速電圧 0.25-8.0kV）、Cs（加速電圧 0.25-11.0kV）
・ビーム径:75μmφ以下
・二次イオン質量分析計:四重極型
・分析モード:質量スペクトル測定、ライン分析、デプスプロファイル、二次イオンイメージ像
液体クロマトグラフ質量分析計 (LC-MS)
- 設備ID
- JI-007
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- Waters (Waters)
- 型番
- ACQUITY UPLC H-Class およびM-Class（ナノLC）, SYNAPT XS
- 仕様・特徴
- 分解能 最大約 75000
観測質量範囲 m/z 50 - 64000
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 ESI, APCI, ナノESI
MS/MS（CID）
イオンモビリティー分析可
Progenesis QI for Proteomicsソフトウェア利用可
二次イオン質量分析装置 (SIMS)
- 設備ID
- RO-523
- 設置機関
- 広島大学
- 設備画像
- メーカー名
- アルバックファイ (ULVAC-PHI, Inc.)
- 型番
- SIMS6650
- 仕様・特徴
- Cs,Oガン装備四重極型質量分析機、
一次イオン最小加速エネルギー1keV
DART質量分析計 (Direct Analysis in Real Time Quadrupole Mass Spectrometer)
- 設備ID
- NR-507
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- Q1000TD
- 仕様・特徴
- ・アンビエントイオン源DARTTM (Direct Analysis in Real Time)
・四重極型
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