共用設備検索結果
高性能単結晶X線自動解析装置 (High-performance Single Crystal X-ray Automatic Structure Analysis System)
- 設備ID
- NR-304
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLAB Synergy-R/Cu
- 仕様・特徴
- 1. 単結晶X線構造解析装置本体（Cu Kα線源、定格最大出力1.2 kW）
2. 窒素ガス吹付型試料冷却装置（80 ~ 500 K）
3. ハイブリッドピクセル検出器(HyPix-6000HE)
4. 遠隔操作（除く試料交換＆センターリング）
500MHz NMR (500MHz NMR)
- 設備ID
- NR-101
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JNM-ECZ500R
- 仕様・特徴
- ・共鳴周波数：500MHz（1H）
・高速グラジエントシム・PFG・多核測定対応
・1H{19F},19F{1H},13C{1H}{19F}測定対応
・温度可変測定：高温および低温
・オートサンプラー：24本
400MHz 固体・溶液NMR (400MHz NMR for solid state and solution)
- 設備ID
- NR-102
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JNM-ECX400P
- 仕様・特徴
- 溶液
・共鳴周波数：400MHz（1H）
・グラジエントシム・PFG・多核測定対応
・温度可変測定：高温および低温
・オートサンプラー：30本
・低周波核測定プローブ
固体
・4㎜-CPMAS測定対応
600MHz NMR (600MHz NMR)
- 設備ID
- NR-103
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JNM-ECA600
- 仕様・特徴
- ・共鳴周波数：600MHz（1H）
・グラジエントシム・PFG・多核測定対応
・温度可変測定：高温および低温
電子スピン共鳴装置 (Electron Spin Reasonance Spectrophotometer)
- 設備ID
- NR-104
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JES-FA100N
- 仕様・特徴
- ・基準周波数：8.75～9.65GHz
・磁場掃引幅：0～±250mT
・磁場可変範囲：-10～650mT
・温度可変測定：高温および低温
・光源：高圧水銀ランプおよびキセノンランプ
・試料角度回転測定対応
多機能分析走査電子顕微鏡 (Multi-functional analysis Scanning Electron Microsope (SEM))
- 設備ID
- NR-201
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-IT800
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 100 V 〜 30 kV
・分解能: 0.5 nm（2次電子像、加速電圧15 kV）
・EDS検出器搭載
・EBSD検出器搭載
・CL検出器搭載
・低真空機能搭載
200kV透過電子顕微鏡 (200kV Transmission Electron Microscope (TEM))
- 設備ID
- NR-203
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2200FS
- 仕様・特徴
- ・加速電圧： 200kV
・倍率： 1,200～600,000倍（分解能：0.31nm）
・オプション：
動画観察システム
走査透過電子顕微鏡（STEM） (Scannning Transmission Electron Microscope (STEM))
- 設備ID
- NR-204
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2700
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 200 kV、120 kV、80 kV
・球面収差補正装置搭載
・分解能: 136 pm
・EDX検出器搭載
超高分解能電界放出型電子顕微鏡 (Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM))
- 設備ID
- NR-205
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- SU9000
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 500 V 〜 30 kV
・分解能: 0.4 nm（2次電子像、加速電圧30 kV）
・EDX検出器搭載
・STEM検出器搭載
低真空分析走査電子顕微鏡 (Scanning Electron Microsope (SEM))
- 設備ID
- NR-206
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- SU6600
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 500 V 〜 30 kV
・分解能: 1.2 nm（2次電子像、加速電圧30 kV）
・EDS検出器搭載
・EBSD検出器搭載
・低真空機能搭載