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Deep Reactive Ion Etching装置(Boschプロセス) (Reactive ion etching equipment (Bosch))

設備ID
TT-011
設置機関
豊田工業大学
設備画像
Deep Reactive Ion Etching装置(Boschプロセス)
メーカー名
住友精密工業 (Sumitomo Precision Products CO.,LTD.)
型番
Multiplex-ASE-SRE-SE
仕様・特徴
・φ4インチ シリコン用(金属剥き出しサンプルは禁止)
メカニカルクランプのため、200μm厚のような薄いウェハは割れるため、厚いウェハに固定して運用。

イオンミリング装置 (Ion milling)

設備ID
TT-012
設置機関
豊田工業大学
設備画像
イオンミリング装置
メーカー名
日立ハイテクフィールディング (Hitachi High-Tech Fielding Corporation)
型番
IM-4-1
仕様・特徴
加工材料:一般的な金属
最大加工領域:3基板
加工速度の目安: 加速電圧600V 減速電圧200V 加速電流120mA 傾斜角-30° でアルミのエッチング速度2.4μm/h

ダイシング装置 (Dicing equipment)

設備ID
TT-013
設置機関
豊田工業大学
設備画像
ダイシング装置
メーカー名
岡本工作機械製作所 (okamoto machine tool works,LTD)
型番
ADM-6DBV
仕様・特徴
φ6インチ以下基板のダイシング加工

電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)(電子ビーム描画機能付属) (Field emission-type scanning electron microscope)

設備ID
TT-014
設置機関
豊田工業大学
設備画像
電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)(電子ビーム描画機能付属)
メーカー名
日本電子 (JEOL Ltd.)
型番
JSM6500F
仕様・特徴
東京テクノロジーのBEAM DRAWを付加した電子線描画装置。最小描画線幅50nm

デジタルマイクロスコープ群 (Optical microscope)

設備ID
TT-015
設置機関
豊田工業大学
設備画像
デジタルマイクロスコープ群
メーカー名
キーエンス (Keyence)
型番
VHX-600、VH-5500など
仕様・特徴
・フリーアングル低倍観察VH-5500など
・測微機能および3次元表示機能付きデジタルマイクロスコ-プ
・材料は不問、サイズはステージに載れば利用可能

エリプソメーター (Ellipsometer)

設備ID
TT-016
設置機関
豊田工業大学
設備画像
エリプソメーター
メーカー名
ガ-トナ- (Gartner Sci. Corp.)
型番
LSE
仕様・特徴
・シリコン酸化膜あるいはSiN膜等の単層あるいは2層膜の膜厚測定
・φ6インチ以下基板

表面形状測定器(段差計) (Stylus profiler)

設備ID
TT-017
設置機関
豊田工業大学
設備画像
表面形状測定器(段差計)
メーカー名
KLAテンコール (KLA-Tencor)
型番
アルファーステップ IQZ
仕様・特徴
触針段差計、材料は不問
φ4インチ程度
針先端が形状を沿って動けることが条件

非接触3次元表面形状・粗さ測定機  (White-light interferometer)

設備ID
TT-018
設置機関
豊田工業大学
設備画像
非接触3次元表面形状・粗さ測定機
メーカー名
ザイゴ (Zygo)
型番
NewView 7300
仕様・特徴
材料は不問。サイズと重量はステージに載れば良い。
約1.5kgまでモーターステージ可動。

ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム (Scanning probe microscope for measuring nano-region material property)

設備ID
TT-019
設置機関
豊田工業大学
設備画像
ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム
メーカー名
ブルカー (Bruker)
型番
Multimode顕微鏡
仕様・特徴
・導電性(TUNA)
・表面電位、STM機能
・原子、分子分解能

ラマン分光装置 (Raman Spectrometer)

設備ID
TT-020
設置機関
豊田工業大学
設備画像
ラマン分光装置
メーカー名
レニショー (Renishaw plc.)
型番
inVia Reflex
仕様・特徴
マッピング可能(最少100nmステップ)
試料サイズ mm~cm
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