共用設備検索
共用設備検索結果
"電気通信大学"で検索した結果 21件
- 21件中 11～20件
- ＜
- 1
- 2
- 3
- ＞
- 設備ID
- UE-011
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8530F
- 仕様・特徴
- 最高加速電圧: 200kV, 倍率: ×50-1,500,000
格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm
- 設備ID
- UE-012
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- Thermo Scientific (Thermo Scientific)
- 型番
- Nicolet 6700
- 仕様・特徴
- 1. 測定範囲: 7,800～350cm-1
最高分解能: 0.09cm-1
S/N比: 50,000:1以上
2. 高速スキャン回数: 95スペクトル／1秒
- 設備ID
- UE-013
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JMS-T100 Accu TOF
- 仕様・特徴
- 微量成分の精密質量測定(ミリマス測定)可能。イオン源には直交形ESIイオン源を装備
- 設備ID
- UE-014
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- DSC8230/TG8120
- 仕様・特徴
- TG/DTA: 室温～1500℃, DSC: -130℃～570℃
- 設備ID
- UE-015
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO Corporation)
- 型番
- J-720W
- 仕様・特徴
- 各種溶液（光路長1mmと10mmのセル），固体物質の場合はペレット状に加圧整形しても測定可能
MCD（磁気円二色性）測定用の永久磁石を付属
ペルチェ冷却式温度制御装置を設置可能
- 設備ID
- UE-016
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker AXS (Bruker AXS)
- 型番
- NETZSCH LFA447
- 仕様・特徴
- 測定温度範囲：室温～300℃
熱拡散率測定範囲: 0.01～1000mm2/s (試料の厚さによる)
熱伝導率測定範囲:0.1～2000W/(mK) (試料の厚さによる)
熱拡散率測定精度・再現性: ±5%以内 (標準試料)
- 設備ID
- UE-017
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 加速電圧: 200kV, 格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm
- 設備ID
- UE-018
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab/R/Kα1/RE
- 仕様・特徴
- 装置が最適条件を教えてくれるガイダンス機能を搭載。膜厚測定、配向測定、粒径空孔径分布測定など、専門的な知識がなくとも測定可能。
- 設備ID
- UE-019
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JMS-S3000
- 仕様・特徴
- 低分子領域であっても高い質量分解能で、選択性の高い局在情報を取得することが可能。
- 設備ID
- UE-020
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- quantum design (quantum design)
- 型番
- MPMS3
- 仕様・特徴
- 従来機(MPMS-XL)と比べて、MPMS3 は、温度安定に達する速さだけでなく、温度履歴が極めて直線的である。
"電気通信大学"で検索した結果 21件
- 21件中 11～20件
- ＜
- 1
- 2
- 3
- ＞