共用設備検索結果
プレートリーダー (Plate reader)
- 設備ID
- NM-008
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- パーキンエルマー (PerkinElmer)
- 型番
- EnSight
- 仕様・特徴
- ・モノクロメーターによる任意波長の測定が可能。
・多様な測定モード（吸光/蛍光/発光/時間分解蛍光）。
・温度調節機能やプレート撹拌機能を搭載。
・光源：UVキセノンフラッシュランプ
・検出器(吸光)：フォトダイオード(230-1000nm)
・検出器(蛍光)：光電子増倍管(230-850nm)
・波長選択：モノクロメーター
・プレートフォーマット：6ウェル、12ウェル、24ウェル、48ウェル、96ウェル、384ウェル
分光光度計 (Spectrophotometer)
- 設備ID
- NM-009
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- U-2900
- 仕様・特徴
- ・光学系：ダブルビーム
・波長範囲：190～1100nm
・スペクトルバンド幅：1.5nm
分光蛍光光度計 (Fluorescence spectrophotometer)
- 設備ID
- NM-010
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- F-7000
- 仕様・特徴
- ・感度：水のラマン光S/N800以上(RMS)、S/N250以上(Peak to peak)
・光源：150W Xeランプ
・測定波長範囲：200～750nm
・波長走査速度：30～60,000nm/min
フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)
- 設備ID
- NM-011
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 (Shimadzu)
- 型番
- IRTracer-100
- 仕様・特徴
- ・光源：高輝度セラミックス光源
・検出器：温調付きDLATGS、液体窒素冷却型MCT
・スペクトル範囲：7,800～350cm-1
・分解能：最大0.25cm-1
・SN比 最大60000:1
・測定用付属品：拡散反射、多重反射ATR、一回反射ATR
円二色性分散計 (Circular dichroism (CD))
- 設備ID
- NM-012
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- J-725
- 仕様・特徴
- ・光源：450Wキセノンランプ
・測定波長範囲：165～1100nm
・測定モード：スペクトル測定、時間変化測定
・スキャン方式：連続スキャン、ステップスキャン
・測定レンジ：0～5Abs
・試料室：恒温水循環により調温
ゼータ電位計 (Zeta potential analyzer)
- 設備ID
- NM-013
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-1000Z
- 仕様・特徴
- ・ゼータ電位測定範囲：-200～200mV
・光学系：レーザードップラー法
・光源：高出力・高安定化半導体レーザー
・セル：標準セル、微量ディスポセルもしくは平板用セル
・検出器：高感度APD
・温度：10 ～ 90℃
動的光散乱光度計 (Dynamic light scattering (DLS) spectrophotometer)
- 設備ID
- NM-014
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electronics)
- 型番
- DLS-8000HAL
- 仕様・特徴
- ・粒径測定範囲：1.4nm～7µm
・重量平均分子量の測定範囲 ：300～2×107 Mw
・光源：He-Neレーザー(632.8nm)、固体ブルーレーザー(488nm)
・検出器：光電子増倍管（フォトンカウンティング方式）
・セル：21φ円筒セル、12φ円筒セル、5φ微量セル
・セル室温度：5～90℃
・角度範囲：5 ～ 160°
粒度分布測定装置 (Particle size analyzer)
- 設備ID
- NM-015
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 (Shimadzu)
- 型番
- SALD-2100
- 仕様・特徴
- ・測定範囲：0.03µm～1000µm
・光源：680nm 半導体レーザー
・測定方式：湿式測定のみ（乾式測定不可）
接触角計 (Contact angle meter)
- 設備ID
- NM-016
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- AST Products (AST Products)
- 型番
- VCA Optima-XE
- 仕様・特徴
- ・材料表面に液体を滴下して接触角を測定します。
・測定範囲：0～180°
・再現性：1°
・正確性:：0.5°
テクスチャーアナライザー (Texture analyzer)
- 設備ID
- NM-017
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 英弘精機 (EKO Instruments)
- 型番
- TA-XT2i
- 仕様・特徴
- ・ロードセル容量・分解能：50kg±1g、5kg±0.1g
・距離設定：0.1mm～250mm
・距離分解能：0.0025mm
・スピード設定：0.1mm/s～10mm/s
・測定モード：圧縮または引張による荷重測定または距離測定