共用設備検索結果
蛍光分光計（Fluorolog-3） (Spectrofluorometer (Fluorolog-3))
- 設備ID
- NM-222
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 堀場製作所 (HORIBA)
- 型番
- Fluorolog-3
- 仕様・特徴
- ・光源：450W Xeランプ
・高感度光電子増倍管(PMT)検出器
・測定波長範囲：600-1400 nm
・波長分解能：1.5 nm
分光蛍光光度計（FP-8500DS） (Spectrofluorometer (FP-8500DS))
- 設備ID
- NM-221
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- FP-8500DS
- 仕様・特徴
- ・光源：150W Xeランプ
・測定波長範囲：200～850 nm (励起側/蛍光側)
・波長走査速度：10～60,000 nm/min (励起側)、20～120,000 nm/min (蛍光側)
紫外可視近赤外分光計（V-770） (UV-Vis-NIR (V-770))
- 設備ID
- NM-220
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- V-770
- 仕様・特徴
- ・光源：重水素ランプ、ハロゲンランプ
・測定波長範囲：190～3200 nm
・測光正確さ：±0.0015 Abs（0～0.5 Abs）、±0.025 Abs（0.5～1 Abs）、±0.3％T
・付属試料ホルダー：標準セルホルダー、フィルムホルダー、回転試料ホルダー、１回反射測定ユニット、積分球ユニット
フーリエ変換赤外分光光度計（IRAffinity-1S） (FT-IR (IRAffinity-1s))
- 設備ID
- NM-219
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 (Shimadzu)
- 型番
- IRAffinity-1s/AIM-9000
- 仕様・特徴
- ＜IRAffinity-1s使用時＞
・ATR法 / 透過法
・波数範囲：7800～400 cm-1 (DLATGS検出器)
・ATRプリズム：ダイヤモンド (屈折率2.4)
＜AIM-9000使用時 (赤外顕微)＞
・ATR法 / 透過法 / 反射法
・波数範囲：4000～400 cm-1 (TGS検出器)、4000～700cm-1 (MCT検出器)
・ATRプリズム：Ge (屈折率4.2)
ゼータ電位＆粒径測定装置（ELSZ-2000ZS） (Zeta-potential/Particle-size analyzer (ELSZ-2000ZS))
- 設備ID
- NM-218
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-2000ZS
- 仕様・特徴
- ・粒径： 0.6 nm ～ 8 µm
・ゼータ電位： -200 ～ +200 mV
・試料濃度：0.00001～40％
・測定温度：0～90 ℃ (ガラスセル)、10～50 ℃ (ディスポセル)
熱分析装置（TG/DTA＋DSC） (TG/DTA＋DSC)
- 設備ID
- NM-217
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
- 型番
- TG/DTA 6200, X-DSC7000
- 仕様・特徴
- ＜TG/DTA＞
・温度範囲：RT ～ 1000℃
・雰囲気： N2 or Air
＜DSC＞
・温度範囲：-150 ～ 725℃
・雰囲気： N2
薄膜X線回折装置_Cu (TF-XRD_Cu)
- 設備ID
- NM-216
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・薄膜測定
・小角散乱測定
・X線反射率
LC-MS（Orbitrap Exploris 480） (LC-MS（Orbitrap Exploris 480）)
- 設備ID
- NM-020
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Orbitrap Exploris 480
- 仕様・特徴
- ・イオン化方式：ESI
・質量検出方式：Orbitrap
・測定質量範囲：40～6,000 m/z
・質量分解能：480,000 at 200 m/z
・オートサンプラー：あり
・タンパク同定ソフト：ProteomeDiscoverer
電子銃型蒸着装置 [ADS-E810] (EB Evaporator [ADS-E810])
- 設備ID
- NM-665
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![電子銃型蒸着装置 [ADS-E810]](data/facility_item/1711340460_11.jpg)
- メーカー名
- アールデック (R-DEC)
- 型番
- ADS-E810
- 仕様・特徴
- ・蒸着方式：電子銃型
・ターゲット：Al, Ti, Ni, AuGe, Pt, Au, Pd, Ag, Cr, 他
・到達真空度：10-5 Pa
・ＴＳ間距離：500 mm
・最大試料サイズ：φ8inch
・その他：ロードロック式、水冷式試料ステージ
スパッタ装置 [CFS-4EP-LL #4] (Sputter [CFS-4EP-LL #4])
- 設備ID
- NM-664
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![スパッタ装置 [CFS-4EP-LL #4]](data/facility_item/1711340420_11.jpg)
- メーカー名
- 芝浦メカトロニクス株式会社 (SHIBAURA MECHATRONICS CORPORATION)
- 型番
- CFS-4EP-LL
- 仕様・特徴
- ・電源：DC×２、RF×１
・電源出力：500W（最大）
・カソード：φ3インチ×4式
・基板サイズ：最大8inchφ
・プロセスガス：Ar、O2、N2
・基板加熱：設定300℃
・逆スパッタ可