共用設備検索結果
走査電子顕微鏡（JSM-6510） (Scanning Electron Mocroscope（JSM-6510）)
- 設備ID
- NM-232
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-6510
- 仕様・特徴
- ・Wフィラメント電子銃
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子分解能：3.0 nm（加速電圧30 kV）、 8.0 nm (加速電圧3 kV）、 15.0 nm（加速電圧1 kV）
・倍率：5～30万倍
・最大試料サイズ：φ150 mm
・操作ナビ画面にナビゲーション表示
・試料交換手順はフロー式で初心者でも簡単に試料交換可能
電界放出形走査電子顕微鏡（JSM-6500F） (Field Emission Scanning Electron Microscope (JSM-6500F))
- 設備ID
- NM-231
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-6500F
- 仕様・特徴
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子像分解能：1.5 nm（加速電圧15 kV）、 5.0 nm（加速電圧1 kV）
・倍率：10～50万倍
・最大試料サイズ：φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・EDS付属（JED-2300）
エネルギー分解能：133 eV以下
検出可能元素：B～U
マルチガス導入グロー放電質量分析システム（VG9000） (Glow Discharge Mass Spectrometer (GD-MS))
- 設備ID
- NM-230
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株) (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- VG9000
- 仕様・特徴
- 1.質量分析器：Nier-Johnson配置二重収束型
2.イオン検出器：ファラデー検出器、イオン計数デイリー検出器
3.質量分析範囲：7～240 amu
4.プラズマ・イオン種：Ar、He
5.液体窒素冷却型試料冷却システム
イオンクロマトグラフシステム (Ion chromatograph)
- 設備ID
- NM-229
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株) (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- ICS-1600
- 仕様・特徴
- 1.ポンプ:流量設定範囲：0.05～5.00 mL/min
2.電気伝導度検出器検出範囲：0～15000 µS
3.デガッサ：真空脱気方式
4.カラムヒーター温度設定範囲：30～60℃（室温より+5℃）
5.試料収容量：1.5 mL、バイアル120本
6.導入モード：フルループ、パーシャルループ、リミテッド試料、キャピラリー
7.自動希釈：1:1～1:1000
微小部蛍光X線分析装置（ORBIS PC） (Micro Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer（Micro-EDXRF))
- 設備ID
- NM-228
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- アメテック株式会社 (AMETEK, Inc.)
- 型番
- ORBIS PC
- 仕様・特徴
- 1.X線源：マイクロフォーカス型Rh管球
2.X線出力：電圧～50 kV、電流～1 mA
3.X線集光部：30 μm径ポリキャピラリー
4.X線検出器：液体窒素レス型SSD検出器
5.測定可能元素種：Na～U3. 大型試料(最大サイズ：270 × 270 × 100 mm
6.デュアルCCD(10倍、75倍、3倍ズーム)
電界放出形走査電子顕微鏡（SU8000） (FE-SEM (SU-8000))
- 設備ID
- NM-227
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- SU-8000
- 仕様・特徴
- ・対物レンズ：セミインレンズ型
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子像分解能：1.0 nm（加速電圧15 kV）、1.4 nm（リターディングモード：照射電圧1 kV）
・倍率：20～80万倍
・反射電子検出器搭載
・STEM（BF）検出器搭載
・EDS付属（Bluker FlatQUAD）
ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡（JSM-7001F） (Schottky FE-SEM (JSM-7001F))
- 設備ID
- NM-226
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-7001F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子像分解能：1.2 nm （加速電圧30 kV）、3.0 nm （加速電圧1 kV）
・倍率：10～1百万倍
・最大試料サイズ：φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・加熱ステージ（最高1000℃）
・EDS付属（JED-2300）
・EBSD：TSL OIM
・格子歪み測定プログラムCrossCourt Ver.3、Ver.4+
X線光電子分光分析装置（XPS-Quantera SXM） (XPS (Quantera SXM))
- 設備ID
- NM-225
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- QuanteraSXM
- 仕様・特徴
- ・走査型単色Al Kα集束X線源
・最小X線ビーム径：9µm
・X線源パワー：1～50 W
・エネルギー分解能：＞0.5 eV（Ag 3d5/2)
・最大試料サイズ： 60 x 60 x 5 mm
中低温示差熱分析装置（DSC200F3） (Medium- and low-temperature differential thermal analyzer(DSC200F3))
- 設備ID
- NM-224
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- ネッチ (NETZSCH)
- 型番
- DSC200F3
- 仕様・特徴
- 温度範囲 (-150-600℃) で試料の熱分析が可能
フーリエ変換赤外分光計（FT/IR-6700） (Fourier transform infrared spectrometer (FT/IR-6700))
- 設備ID
- NM-223
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- FT/IR-6700
- 仕様・特徴
- 測定波数範囲:7800～350cm-1、最高分解能:0.25cm-1、ATR、RAS付属