Various TEM analyses of a standard specimen (cross grating)
課題名
Various TEM analyses of a standard specimen (cross grating
課題番号
JPMXP1222NM1003
データセット登録者
MATSUNAMI,Shigeyuki（NIMS）
KIMOTO,Koji（NIMS）
エンバーゴ期間終了日
2023-10-31
データセットID
e72852dc-7504-4940-b1a0-3c49f98176f4
ファイルサイズ
239.41MB
データ数
4
装置名
単原子分析電子顕微鏡
要約
TEM装置の較正に用いられるcross grating replica試料(Agar S106)のSTEM、TEM、Diffraction、EELSの計測結果。
TEM and STEM images, a diffraction pattern and an EEL spectrum of a cross grating replica (Agar S106).
木本浩司ほか「物質・材料研究のための透過電子顕微鏡」講談社(2020).ISBN 978-4065203866
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