データセット名：Various TEM analyses of a standard specimen (cross grating)
課題名：Various TEM analyses of a standard specimen (cross grating
データセット登録者（所属機関）：KIMOTO,Koji（NIMS）
- 課題番号：
- JPMXP1222NM1003
- 実施機関：
- 物質・材料研究機構
要約
【要約】
TEM装置の較正に用いられるcross grating replica試料(Agar S106)のSTEM、TEM、Diffraction、EELSの計測結果。
TEM and STEM images, a diffraction pattern and an EEL spectrum of a cross grating replica (Agar S106).
【試料および観察条件】
試料は1/2160 mm間隔の格子のレプリカ試料。
カーボン膜上にAuPd(組成比1:1)の不連続蒸着膜。 FCC構造、格子定数0.399 nm。
倍率・カメラ長校正や、TEM・STEMの軸調整に使用。
実験は加速電圧300kVで収差補正装置を用いて観察。
【参考資料】
木本浩司ほか「物質・材料研究のための透過電子顕微鏡」講談社(2020).ISBN 978-4065203866
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データメトリックス
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データインデックス
- 登録日：
- 2023.12.25
- エンバーゴ解除日：
- 2023.10.31
- データセットID：
- e72852dc-7504-4940-b1a0-3c49f98176f4
- データタイル数：
- 4
- ファイル数：
- 20
- ファイルサイズ：
- 221.44MB