単原子分析電子顕微鏡
| 設備ID | NM-402 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
| 装置名称 | 単原子分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS並木地区 超高圧電子顕微鏡特殊実験棟 108号室 |
| メーカー名 | 日本エフイー・アイ (FEI) |
| 型番 | FEI Titan Cubed |
| キーワード | 超高分解能TEM/STEM |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧80kV－300kV ・分解能70pm (300kV) ・エネルギー分解能80meV (80kV) ・ダブルコレクター ・モノクロメータ |
