【公開日:2024.07.25】【最終更新日:2024.06.25】
課題データ / Project Data
課題番号 / Project Issue Number
23NM5269
利用課題名 / Title
SrxCa1-xSiAlN3[SCASN]蛍光体の微細構造解明
利用した実施機関 / Support Institute
物質・材料研究機構 / NIMS
機関外・機関内の利用 / External or Internal Use
内部利用(ARIM事業参画者以外)/Internal Use (by non ARIM members)
技術領域 / Technology Area
【横断技術領域 / Cross-Technology Area】(主 / Main)計測・分析/Advanced Characterization(副 / Sub)-
【重要技術領域 / Important Technology Area】(主 / Main)マテリアルの高度循環のための技術/Advanced materials recycling technologies(副 / Sub)-
キーワード / Keywords
SCASN蛍光体,透過型電子顕微鏡,欠陥構造
利用者と利用形態 / User and Support Type
利用者名(課題申請者)/ User Name (Project Applicant)
廣崎 尚登
所属名 / Affiliation
物質・材料研究機構
共同利用者氏名 / Names of Collaborators in Other Institutes Than Hub and Spoke Institutes
ARIM実施機関支援担当者 / Names of Collaborators in The Hub and Spoke Institutes
利用形態 / Support Type
(主 / Main)技術代行/Technology Substitution(副 / Sub)-
利用した主な設備 / Equipment Used in This Project
NM-504:200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F2)
NM-509:デュアルビーム加工観察装置
報告書データ / Report
概要(目的・用途・実施内容)/ Abstract (Aim, Use Applications and Contents)
SCASNセラミックスの微細構造を調べ、発光特性との関係を解明する。
実験 / Experimental
TEMで欠陥構造を調べる
結果と考察 / Results and Discussion
SCASNセラミックス粒子からFIBで薄片を切り出し、TEMで内包する欠陥の微細構造を調べた。組成により欠陥の挿入パターンが変化し、それにより結晶の対称性が変化し空間群が変化した。空間群が変わることによりEuからの発光波長が変化し、特定の欠陥構造で優れた発光特性が得られること、欠陥構造の入り方により新規の結晶構造が得られることがわかった
図・表・数式 / Figures, Tables and Equations
その他・特記事項(参考文献・謝辞等) / Remarks(References and Acknowledgements)
成果発表・成果利用 / Publication and Patents
論文・プロシーディング(DOIのあるもの) / DOI (Publication and Proceedings)
口頭発表、ポスター発表および、その他の論文 / Oral Presentations etc.
特許 / Patents
特許出願件数 / Number of Patent Applications:0件
特許登録件数 / Number of Registered Patents:0件