日時

2025年2月6日（木）13:30-15:30

開催方式／場所

オンライン＋現地開催
オンライン：Microsoft Teamsによるオンライン配信
場所：名古屋工業大学4号館1階110室

主催

名古屋工業大学 産学官金連携機構 設備共用部門

定員

現地：30名（定員となり次第締め切り）
Web：なし

参加費

無料

参加申し込み

Webフォーム　https://kiki.web.nitech.ac.jp/eq-seminar20250206/
申込締切：2月3日（月）9:00

詳細

13:30-15:00（質問時間：10分を含む）
　　　「多機能電子顕微鏡JEM-F200のご紹介」
　　　日本電子株式会社　科学・計測機器営業本部　　遠藤 徳明 氏

　　　多機能電子顕微鏡JEM-F200は、TEM像、電子回折図形、STEM像の取得に加え、大口径SDDを2本搭載することで、ハイスループットかつ
　　　高精度なEDS分析を実現します。
　　　直感的な操作性とオートアシスト機能を備え、さらにSPECPORTER™により、スイッチ一つでホルダーの安全な挿入・取り出しが可能です。
　　　本セミナーでは、装置の主な特長と取得可能なアプリケーション例についてご紹介いたします。

　　　【主な発表内容】
　　　・装置のハードウェア（Cold-FEG、Dual SDD、SPECPORTER™など）
　　　・装置のソフトウェア（TEM Centerや統合分析プラットフォームFEMTUS™など）
　　　・取得可能なアプリケーション例

15:10-15:30
　　　TEM (JEM-F200)見学会
　　　※現地参加の希望者のみ
　　　※搬入後立上げ途中の装置外観になります。立上げ作業中により人数制限を行う可能性がありますので、予めご了承ください。
　　　※見学の後に相談もお受けします。（最大17時まで）

お問い合わせ

名古屋工業大学 産学官金連携機構 設備共用部門
愛知県名古屋市昭和区御器所町
Tel: 052-735-5533
E-mail: oogata-jim(at)adm.nitech.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。

ホームページ
[URL] https://kiki.web.nitech.ac.jp/eq-seminar20250206/
※最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。