日時
2024年10月8日（火）13:00-18:00
場所
東京大学 浅野キャンパス 武田先端知ビル5F
主催
東京大学・次世代電子顕微鏡法社会連携講座
共催
東京大学・日本電子産学連携室、マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）
定員
150名（定員となり次第締め切り）
参加費
無料
参加申し込み
Webフォーム https://forms.gle/yDeLJyBKPaKw8ahU6
詳細
電子顕微鏡セミナー ～TEM入門コース～ プログラム
13:00-13:05 開会挨拶、オリエンテーション 東京大学大学院工学系研究科 石川 亮
13:05-14:05 TEMの基礎理論について 日本電子株式会社 近藤 行人
14:05-14:35 TEMのハードウェアについて 日本電子株式会社 EM事業U 山本 若葉
14:35-14:45 休憩
14:45-15:15 TEMサンプリングについて（TEMサンプリング概略、イオンミリング法） 日本電子株式会社 EP事業U 河原 尚
15:15-15:45 FIBによるTEMサンプリングについて 日本電子株式会社 EP事業U 柴田 昌照
15:45-16:15 様々なTEM観察手法の紹介 東京大学・日本電子産学連携室 斎藤 光浩
16:15-16:20 閉会挨拶
16:20-18:00 意見交換会（懇親会）
※詳細は、開催案内をご覧ください。
お問い合わせ
東京大学・日本電子産学連携室 金子・斎藤
E-mail: skaneko(at)jeol.co.jp ※(at)を@に書き換えてください。
または
東京大学ARIM統括コーディネート室
https://lcnet.t.u-tokyo.ac.jp/contact/