設置機関：物質・材料研究機構 (NIMS)
- NM-216 薄膜X線回折装置_Cu
- NM-217 熱分析装置（TG/DTA＋DSC）
- NM-218 ゼータ電位＆粒径測定装置（ELSZ-2000ZS）
- NM-219 フーリエ変換赤外分光光度計（IRAffinity-1S）
- NM-220 紫外可視近赤外分光計（V-770）
- NM-221 分光蛍光光度計（FP-8500DS）
- NM-222 蛍光分光計（Fluorolog-3）
- NM-223 フーリエ変換赤外分光計（FT/IR-6700）
- NM-224 中低温示差熱分析装置（DSC200F3）
- NM-225 X線光電子分光分析装置（XPS-Quantera SXM）
- NM-226 ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡（JSM-7001F）
- NM-227 電界放出形走査電子顕微鏡（SU8000）
- NM-228 微小部蛍光X線分析装置（ORBIS PC）
- NM-229 イオンクロマトグラフシステム
- NM-230 マルチガス導入グロー放電質量分析システム（VG9000）
設置機関：香川大学